[实用新型]I2C总线测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种I2C总线测试治具。 

背景技术

目前，经常会遇到由于电压传感器(voltage sensor)以及温度传感器（tempreature sensor）读值异常造成客户端及公司各单位投入许多人力及心力和时间寻找问题根源，然而由于这些传感器的读值是由iBMC（集成底板管理控制器） 透过I2C（Inter－Integrated Circuit）总线读取装置的数据再经过iBMC 解读后所报告出来的结果,但因为不良现象（failed symptom）并不好复制造成出错阶段花费许多时间在寻找问题的方向,最后证实是某个I2C总线没有超时(timeout)的机制并且iBMC 本身的固件（firmware） 也没有加进I2C 超时驱动器，从而造成iBMC读取I2C 总线的读值判断错误. 也因为在开发阶段并没有针对I2C时序超时功能上的测试,才没有及时找出在开发设计时间时已潜在的问题,造成后续在系统端所遇到的问题。 

有鉴于此，本实用新型提供一种I2C总线测试治具，其可测试一待测电路板的I2C总线是否符合I2C规范。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种I2C总线测试治具，其可测试一待测电路板的I2C总线是否符合I2C规范，排除I2C总线在研发阶段造成的不良问题。 

为达上述目的，本实用新型提供一种I2C总线测试治具，其一端连接一含有测试软件控制平台的测试端电脑，另一端与待测电路板的I2C总线接口连接，所述待测电路板的I2C总线接口连接所述待测电路板内部的I2C总线，所述I2C总线测试治具包括：

一微处理器，其透过USB传输线与所述测试端电脑的测试软件控制平台连接，用于执行所述测试软件控制平台依据设定的测试参数产生的测试命令；以及

一I2C总线扩展器件连接在所述微处理器以及待测电路板之间供进行I2C信号的传输。

优选地，所述I2C总线具有一I2C总线输入接口以及若干个I2C总线输出接口，所述I2C总线扩展器件的I2C总线输入接口通过I2C总线连接所述微处理器，所述I2C总线的I2C总线输出接口与所述待测电路板的I2C总线接口连接。

优选地，所述I2C总线扩展器件为一具有中断逻辑和复位的4通道I2C总线开关。

与现有技术相比较，本实用新型I2C总线测试治具通过微处理器执行所述测试端电脑依据设定的测试参数所产生的测试命令，并通过I2C总线扩展器件连接在所述微处理器与待测电路板之间，当开始测试时，微处理器停止发送I2C信号给待测电路板的I2C总线接口，此时测试人员可通过信号监测装置监测待测电路板的I2C总线是否有符合I2C规范，从而可在电路板研发阶段排除由于I2C总线引起的不良。

附图说明

图1为本实用新型一种I2C总线测试治具方块示意图。

具体实施方式           

请参阅图1所示，本实用新型一种I2C总线测试治具1，其一端连接一载有I2C测试软件程序21的测试端电脑2，另一端与具有I2C总线接口31的待测电路板3连接，所述电路板的I2C总线接口31用于连接所述测试治具1与所述待测电路板3内部的I2C总线（未示），本实用新型的I2C总线测试治具1包括：

一微处理器10，其透过USB传输线与所述测试端电脑2连接，用于执行所述测试端电脑2依据设定的测试参数所产生的测试命令；

一I2C总线扩展器件11连接在所述微处理器10与所述待测电路板3的I2C总线接口31连接供在所述微处理器10与所述待测电路板3之间进行I2C信号传输，在本实施例中，所述I2C总线扩展器件11具有一I2C总线输入接口111以及若干个I2C总线输出接口112，所述I2C总线扩展器件11的I2C总线输入接口111通过I2C总线连接所述微处理器10，供接收所述微处理器10的I2C信号，所述若干个I2C总线的I2C总线输出接口112与所述待测电路板3的I2C总线接口31连接，供同时与待测电路板3的不同I2C接口31连接，以便同时测试多个I2C总线，在本实施例中，所述I2C总线扩展器件11为一具有中断逻辑和复位的4通道I2C总线开关，当然也可为其它形式的，例如具有中断逻辑和复位的8通道I2C总线开关，在此仅举例说明，并非限制。