[实用新型]直线激光器的遮挡端盖有效

专利信息
申请号: 201320595241.6 申请日: 2013-09-12
公开(公告)号: CN203414059U 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 孙秋成;徐中宇 申请(专利权)人: 长春工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 130012 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 直线 激光器 遮挡
【说明书】:

技术领域

实用新型属于线结构光测量激光器辅助调整装置领域,具体涉及一种直线激光器的遮挡端盖。

背景技术

视觉测量技术能很好地适应现代工业对工件外形尺寸检测所提出的新标准和要求,是一种兼备精度和效率的非接触式外形检测手段。直线激光器是视觉测量技术中常用的一种线结构激光发射装置,它能射出激光平面并在投影平面上投射出直线度极高的激光光条,当直线激光器发射的激光照射到被检测工件表面时,原本的直线激光光条就会随被检测工件表面形状发生相应的形状改变。用相机拍摄此时的激光光条形状,就能通过视觉测量算法解算得出被检测工件的三维表面形状。

然而,当用直线激光器所发出的直线激光投射到一些反光度较高的待检测轴的表面上时,在轴表面的中心母线位置会出现强烈的散射性反光,这些反光点会在标定相机拍摄下的激光光条照片上形成极明亮的光斑,并使光斑周边的图像都受到干扰,形成相片的局部过曝,进而严重影响视觉测量算法的检测结果。

实用新型内容

为了解决现有用直线激光器所发出的直线激光投射到一些反光度较高的待检测轴表面上时,在轴表面的中心母线位置会出现强烈的散射性反光,这些反光点会在标定相机拍摄下的激光光条照片上形成极明亮的光斑,并使光斑周边的图像都受到干扰,形成相片的局部过曝,进而严重影响视觉测量算法的检测结果的技术问题,本实用新型提供一种直线激光器的遮挡端盖。

本实用新型解决技术问题所采取的技术方案如下:

直线激光器的遮挡端盖包括端盖帽、滑块和细杆,端盖帽包括圆柱腔、上挡块和下挡块,上挡块和下挡块对称设置在圆柱腔轴线的两侧,上挡块与下挡块平行,上挡块和下挡块的间距小于圆柱腔的直径,所述上挡块上设有贯通的T形槽,T形槽沿着上挡块的长边方向开槽;所述滑块包括一体成型的T形基座和凸台,凸台位于T形基座的底端面上,凸台上设有贯通的孔;T形基座嵌入T形槽内并与其无间隙配合,T形基座与T形槽滑动连接;凸台位于T形槽的外部,孔沿着圆柱腔的直径方向开通并与上挡块的长边垂直;所述细杆是直径为1mm~1.5mm的圆柱杆,其顶端固定在孔内,细杆从凸台下端露出部分的长度大于上挡块和下挡块的间距。

本实用新型的有益效果是:该直线激光器的遮挡端盖可以方便可靠地套在直线激光器前端,通过垂直于直线激光所在光平面的细杆,使光平面被细杆局部遮挡并在对应的直线激光光条上留下阴影黑斑。通过移动滑块可以带动细杆改变阴影黑斑在直线激光光条上的位置,从而用细杆的阴影黑斑遮挡在待检测轴表面中心母线上原本出现的散射性反光光斑的位置,进而保障了所拍摄的直线激光照片符合视觉测量算法的检测要求。此外,该直线激光器的遮挡端盖还具有结构简单实用,成本低廉,便于推广普及等优点。

附图说明

图1是本实用新型直线激光器的遮挡端盖的立体图;

图2是图1中I部分的局部放大图;

图3是本实用新型中的端盖帽的正视图;

图4是图3的A-A剖视图;

图5是本实用新型中的滑块的立体图;

图6是本实用新型直线激光器的遮挡端盖的应用示意图;

图7是图6中II部分的局部放大图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。

如图1至图5所示,本实用新型直线激光器的遮挡端盖包括端盖帽1、滑块2和细杆3,端盖帽1包括圆柱腔1-1、上挡块1-2和下挡块1-3,上挡块1-2和下挡块1-3对称设置在圆柱腔1-1轴线的两侧,上挡块1-2与下挡块1-3平行,上挡块1-2和下挡块1-3的间距小于圆柱腔1-1的直径,所述上挡块1-2上设有贯通的T形槽1-2-1,T形槽1-2-1沿着上挡块1-2的长边方向开槽;所述滑块2包括一体成型的T形基座2-1和凸台2-2,凸台2-2位于T形基座2-1的底端面上,凸台2-2上设有贯通的孔2-2-1;T形基座2-1嵌入T形槽1-2-1内并与其无间隙配合。所述的无间隙配合是指T形基座2-1与T形槽1-2-1之间具有足够的摩擦力,使T形基座2-1处于竖直状态时不会从T形槽1-2-1中滑落。T形基座2-1与T形槽1-2-1滑动连接;凸台2-2位于T形槽1-2-1的外部,孔2-2-1沿着圆柱腔1-1的直径方向开通并与上挡块1-2的长边垂直;所述细杆3是直径为1mm~1.5mm的圆柱杆,其顶端固定在孔2-2-1内,细杆3从凸台2-2下端露出部分的长度大于上挡块1-2和下挡块1-3的间距。

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