[实用新型]基于光纤通道的测试系统有效

专利信息
申请号: 201320565039.9 申请日: 2013-09-12
公开(公告)号: CN203537390U 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 胡钢;邱昆 申请(专利权)人: 成都成电光信科技有限责任公司
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07;G01R31/3177;G01R31/3185
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 谢敏
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 光纤 通道 测试 系统
【权利要求书】:

1.基于光纤通道的测试系统, 包括第一参考时钟芯片、第二参考时钟芯片,其特征在于:还包括中央处理器、光收发器、FPGA现场可编程门阵列、FLASH 存储器、JTAG 调试器,所述第一参考时钟芯片、第二参考时钟芯片、FLASH存储器、JTAG 调试器均与中央处理器连接,所述JTAG 调试器连接FLASH存储器,所述中央处理器、光收发器均与FPGA现场可编程门阵列连接。

2.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:所述的FPGA现场可编程门阵列包括FC数据处理器、数据缓存、PCI-Express处理器、工作状态寄存器组,所述FC数据处理器、数据缓存和PCI-Express处理器均与工作状态寄存器组连接,所述FC数据处理器连接数据缓存,所述数据缓存连接PCI-Express处理器。

3.根据权利要求2所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:所述的数据缓存包括接收缓存和发送缓存,所述FC数据处理器连接接收缓存,所述接收缓存连接PCI-Express处理器,所述PCI-Express处理器连接发送缓存,所述发送缓存连接FC数据处理器。

4.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:还包括高速数据缓存器SRAM,所述高速数据缓存器SRAM连接FPGA现场可编程门阵列。

5.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:还包括PCI-Express接口,所述PCI-Express接口连接PCI-Express处理器。

6.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:还包括接口芯片MAX1482、RS485接口、RS422接口,所述RS485接口、RS422接口均与接口芯片MAX1482相连,所述接口芯片MAX1482连接FPGA现场可编程门阵列。

7.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:所述的FPGA现场可编程门阵列为Xilinx XC5VLX110T。

8.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:所述的中央处理器为Cortex-M3 核ARM微处理器LPC1769。

9.根据权利要求1所述的基于光纤通道的测试系统,其特征在于:所述的光收发器的型号为FTRJ-8519-1-2.5。

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