[实用新型]触控面板测试用探针结构

说明书

技术领域

本实用新型为一种触控面板测试用探针结构，尤其是有关于可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的熔锡来接触测试触控面板上的电路组件，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。

背景技术

随着计算机的普及，各种输入设备应运而生，而智能型手机等问世，更让触控屏幕成为最重要的输入设备。

触控屏幕的灵敏度及耐用度一直是于开发、设计及生产中，最重要考虑的地方。目前研发及生产后，在过程及最后测试电性阶段需要用探针来作测试，但常因探针之前端的硬度致使于测试过程中损伤电路组件。

如何能提供一完善的触控屏幕测试工具，是当今最重视的一环，也是发明人极欲解决的课题。

发明内容

有鉴于现有结构的不完善处，发明人经多年研究，终于设计出此种可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性,并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力,而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。

本实用新型触控面板测试用探针结构，其包括一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，前端突出杆体开口，前端具有一熔锡。

本实用新型的主要目的在于可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的熔锡来接触测试触控面板上的电路组件，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。

为了能让审查员能更易于了解本实用新型，请参阅以下图式及实施方式说明。

附图说明

图1为本实用新型触控面板测试用探针结构的结构。

附图标记说明

10   杆体

11   开口

111  承载部

112  熔锡

12   弹性组件

13   杆体末端

20   杆心

具体实施方式

请参阅图1，图1为本实用新型触控面板测试用探针结构的结构图。本实用新型触控面板测试用探针结构，其包括：一杆体10，其内呈中空，前端具一开口11，中空处末端设置有弹性组件12；以及一杆心20，其内设置于杆体10中空内，后端与弹性组件12接触或连接，前端突出杆体开口11，前端具有一熔锡112(或前端具有一承载部111可以容纳熔锡)；借由如上的结构，一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性,并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力,而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。

本实用新型触控面板测试用探针结构的弹性组件12可以为弹簧、弹片、具弹性的金属、或具弹性的塑料。

值得一提的是，本实用新型触控面板测试用探针结构的杆体10可以伸缩，以及杆体末端13可以弯折，以适用更广角度之触控测试。

以上所述仅是借由优选实施例详细说明本实用新型触控面板测试用探针结构，然而对于该实施例所作的任何修改与变化，例如杆体的材质、弹性组件的实施结构或承载部等等的变化均不脱离本实用新型的精神与范围。

由以上详细说明可使熟悉本项技术的技术人员明了本实用新型的确可达成前述目的，实已符合专利法的规定，故依法提出新型专利申请。