[实用新型]一种方便半导体产品转移的加工台面

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体产品，具体涉及一种方便半导体产品转移的加工台面。

背景技术

半导体产品完成切脚成型后会自动装入料管中，此时需要对产品的外观进行检查，现有的方法为手工单个逐次将产品从料管中倒出放在显微镜下检查，这样浪费了大量的劳动力，大大提升了企业的生产成本。

申请号为201220604562.3的中国专利公开了名称为“配合摄像头进行尺寸检查装置”，其包括一产品滑块治具、直边滑道板，所述的产品滑块治具与下面直边滑道板实现平行滑动，实现尺寸管控的基准线功能，其专利存在的缺点在于产品滑动缺乏灵活性，其只能在直线上作业，而产品送料可能从多个方向送料，此时又需人工将其产品放入直线滑轨上，这无疑又增加了工序。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种方便半导体产品转移的加工台面，提升了检测半导体产品外观的效率，节约企业的生产成本。

为了实现以上目的，本实用新型提供一种方便半导体产品转移的加工台面，包括加工台面，所述加工台面包括一检查治具，本实用新型的改进之处在于，所述检查治具包括一显微镜、一平行滑轨，所述平行滑轨的一端连接有一转接头，所述转接头的一侧连接有料管。

进一步的，所述显微镜的下方设有一磁铁。

进一步的，所述转接头包括A板与B板，所述A板与所述B板间留有一腔体。

进一步的， 所述料管套接于所述转接头的一侧。

本实用新型提供的一种方便半导体产品转移的加工台面，采用滑道可一次检测多个半导体产品的外观，代替了现有人工一次检测一个半导体产品，提升了其检测效率，节约了企业的生产成本，同时采用转接头连接轨道的一侧，方便于料管中产品顺利的进入检查治具中，节约了检测时间。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的一种方便半导体产品转移的加工台面的结构示意图；

图2为本实用新型提供的转接头的侧视示意图；

图3为本实用新型提供的料管的侧视示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种方便半导体产品转移的加工台面，提升了检测半导体产品外观的效率，节约企业的生产成本。

下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参见图1、图2、图3分别为本实用新型提供的一种方便半导体产品转移的加工台面的结构示意图、本实用新型提供的转接头的侧视示意图、本实用新型提供的料管的侧视示意图。本实用新型提供的一种方便半导体产品转移的加工台面，包括加工台面，所述加工台面包括一检查治具，所述检查治具包括一显微镜1、一平行滑轨2，所述平行滑轨2的一端连接有一转接头3，所述转接头3的一侧连接有料管4，所述显微镜的下方设有一磁铁11，所述转接头3包括A板31与B板32，所述A板31与所述B板32间留有一腔体，固定半导体产品100， 所述料管4套接于所述转接头3的一侧，方便于料管中半导体产品顺利的进入检查治具中，节约了检测时间。

通过以上描述可知，本实用新型提供的一种方便半导体产品转移的加工台面，采用滑道可一次检测多个半导体产品的外观，代替了现有人工一次检测一个半导体产品，提升了其检测效率，节约了企业的生产成本，同时采用转接头连接轨道的一侧，方便于料管中产品顺利的进入检查治具中，节约了检测时间。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。