[实用新型]一种半导体光电特性测试盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器技术领域，尤其涉及一种半导体光电特性测试盒。

背景技术

半导体激光器具有体积小、重量轻、电光转换效率高、性能稳定、可靠性高和寿命长等优点，被广泛应用于通信、计算机、影视、制造业、航天航空、医疗等领域，已经成为光电行业最有前途的领域。对半导体激光器的性能参数进行测试和表征是掌握激光器特性的关键，同时也是判断激光器好坏的重要依据。对半导体激光器测试的性能参数包括LIV（功率-电流-电压）、波长、光谱等，其中LIV测试是半导体激光器的基本测试项目。

根据LIV特性测试原理要求，激光器需保证在黑暗的环境中，避免或最大的减少外界光源、光线对测试结果的干扰；另外光敏面与积分球探测器光敏面的同轴对称情况及两者之间的焦距都决定了测试结果的可靠性与一致性；所以设计与半导体激光器测试相匹配的测试盒或测试装置尤为必要。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对半导体激光器特性测试要求，提供了一种半导体光电特性测试盒。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种半导体光电特性测试盒，包括测试盒主体，与所述测试盒主体相配合的前板、前盖板、盖板、后板、后盖板，所述前板上带有前板插座定位通孔用于固定测试盒插座，所述测试盒插座上固定有发射激光器，所述发射激光器通过导线通孔中的闭环线路连接，形成一个封闭的测试系统；所述前板通过前板配合凸出结构与所述测试盒主体配合连接，所述前板带有前板插针孔用于前板与测试盒主体的位置固定，所述前板还带有前板定位通孔、前盖板定位螺孔用于前板与前盖板的位置固定；后板上设置有积分探测器，通过压筒与盖板配合连接，盖板与后板配合凹槽结构配合连接，后板配合凸出结构与测试盒主体配合连接，使积分探测器处于位置锁定状态，后盖板带有后盖定位螺孔用于后盖板与测试盒主体的位置固定。

在上述技术方案的基础上，本实用新型还可以做如下改进。

进一步，所述测试盒主体具有测试盒主体后板定位螺孔、测试盒主体同轴安装结构、导线通孔、测试盒主体后盖定位螺孔、测试盒主体后板配合凹槽结构、测试盒主体插针孔、测试盒主体前板配合凹槽结构。

其中，所述测试盒主体后板配合凹槽结构用于后板的配合连接，所述测试盒主体后板定位螺孔用于测试盒主体与后板位置固定，所述测试盒主体后盖定位螺孔用于测试盒主体与后盖板的位置固定，所述测试盒主体上的导线通孔用于发射激光器、积分探测器的线路通道；所述测试盒主体前板配合凹槽结构用于前板的配合连接，所述测试盒主体插针孔用于测试盒主体与前板的位置固定；所述测试盒主体同轴安装结构与后板同轴安装结构，前板同轴安装结构，形成同轴结构。

进一步，所述测试盒插座包括插座口、导轨、推条、拔杆，所述测试盒插座口9为多插针孔结构，所述圆柱形插座轴心带有与所述测试盒主体同轴安装结构同轴的圆孔，作为插座同轴安装结构，保证光路。

进一步，所述前板带有与测试盒主体相配合连接的前板配合凸出结构，前板配合凸出结构壁上带有两个对称的插座定位螺孔，用于固定测试盒插座与发射激光器。所述测试盒前板带有前板定位通孔、前板插针孔，前板定位通孔用于前板与前盖板的位置固定，前板插针孔用于前板与测试盒主体的位置固定，前板同轴安装结构与测试盒主体同轴安装结构形成同轴结构，保证光路。

所述前盖板带有前盖板定位螺孔，用于前盖板与前板的位置固定。

进一步，所述后板的一端带有与盖板相配合连接的后板配合凹槽结构，另外一端带有与测试盒主体相配合连接的后板配合凸出结构。所述后板带有后板定位通孔用于后板与测试盒主体的位置固定，所述后板还带有后板定位螺孔用于后板与盖板的位置固定，其中，后板同轴安装结构与测试盒主体同轴安装结构形成同轴结构，保证光路。

进一步，所述盖板中心带有一圆孔作为盖板同轴安装结构，中心圆孔周围对称分布四个圆孔，作为积分探测器定位螺孔，在圆形测试盒盖板边缘处带有两个与后板定位螺孔相对应的圆孔，作为盖板定位螺孔。

进一步，所述压筒为圆柱形结构，轴心带有与盖板同轴安装结构同轴的圆孔，作为压筒同轴安装结构，保证光路。

进一步，所述后盖板带有后盖定位螺孔，用于后盖板与测试盒主体的位置固定，后盖板还带有航空插座定位螺孔、后盖插座孔，用于航空插座的位置固定与仪器的连接。

进一步，所述插针为圆柱长条形状，用于前板与测试盒主体的位置固定。