[实用新型]基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置有效
申请号: | 201320501110.7 | 申请日: | 2013-08-16 |
公开(公告)号: | CN203534623U | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 腾飏 | 申请(专利权)人: | 北京凯润达精密仪器有限公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 北京市海淀区北三环中*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 磁头 信号 转换 转台 分度 转速 转数 测量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及转台测量技术领域,尤其涉及一种基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置。
背景技术
对于转台,尤其是大型转台,磁带是粘贴在转台的外圆周上的,这种转台在测量分度、转数及转速的时候,必须解决缺口处信号连续的测量难题。对于这个问题,现有技术是使用一个磁头,但需缺口处严密无缝对接才能满足测量要求,但在实际操作过程中,几乎不可能做到磁带的无缝对接,在缺口处都会出现测量信号的跳变及丢失脉冲信号,进而造成输出信号的不连续,严重影响测量精度导致测量失败。
发明内容
针对上述技术中存在的不足之处,本发明提供一种工作稳定、实用性强及测量精度准确的基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置,该测量装置能够有效解决磁带缺口处输出信号不连续及测量信号跳变的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置,包括围合在转台上的磁带、第一磁头、第二磁头、双磁头信号转换装置和数显控制装置,所述磁带的连接缺口的两边上分别设有第一参考位和第二参考位,所述第一磁头和第二磁头分别设置在磁带的连接缺口的两边,所述双磁头信号转换装置具有第一控制端、第二控制端和显示控制端,所述第一磁头与双磁头信号转换装置的第一控制端电连接,所述第二磁头与双磁头信号转换装置的第二控制端电连接,所述数显控制装置与双磁头信号转换装置的显示控制端电连接。
其中,所述测量装置还包括基座、第一连接块和第二连接块;所述第一磁头通过第一连接块固定在基座上,所述第二磁头通过第二连接块固定在基座上。
其中,所述数显控制装置包括数显控制仪、数显记录仪和显示器;所述数显控制仪与双磁头信号转换装置电连接,且所述数显控制仪分别与数显记录仪和显示器电连接。
其中,所述第一磁头与双磁头信号转换装置的第一控制端通过导线电连接,所述第二磁头与双磁头信号转换装置的第二控制端通过导线电连接。
其中,所述第一磁头与双磁头信号转换装置的第一控制端通过WIFI无线通讯方式电连接,所述第二磁头与双磁头信号转换装置的第二控制端通过WIFI无线通讯方式电连接。
其中,所述第一磁头与双磁头信号转换装置的第一控制端通过红外无线通讯方式电连接,所述第二磁头与双磁头信号转换装置的第二控制端通过红外无线通讯方式电连接。
其中,所述第一磁头与双磁头信号转换装置的第一控制端通过蓝牙无线通讯方式电连接,所述第二磁头与双磁头信号转换装置的第二控制端通过蓝牙无线通讯方式电连接。
本发明的有益效果是:与现有技术相比,本发明提供的基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置,其磁带随着转台转动,并通过感应磁带两端上的参考位来切换这两个磁头,采用第一磁头和第二磁头跨过磁带的缺口来保持测量信号的连续性,并将测量结果显示在数显控制装置上。该测量装置有效解决了磁带的缺口处输出信号不连续及测量信号跳变的问题,同时,具有工作稳定、适用范围广、实用性强及测量精度准确等特点。
附图说明
图1为本发明的基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置的结构示意图。
主要元件符号说明如下:
10、磁带 11、第一磁头
12、第二磁头 13、双磁头信号转换装置
14、数显控制装置 15、第一参考位
16、第二参考位 17、转台
18、第一连接块 19、第二连接块
20、基座
具体实施方式
为了更清楚地表述本发明,下面结合附图对本发明作进一步地描述。
请参阅图1,本发明提供的基于双磁头信号转换的转台分度、转速及转数测量装置,包括围合在转台17上的磁带10、第一磁头11、第二磁头12、双磁头信号转换装置13和数显控制装置14,磁带10的连接缺口的两边上分别设有第一参考位15和第二参考位16,第一磁头11和第二磁头12分别设置在磁带10的连接缺口的两边,双磁头信号转换装置13具有第一控制端、第二控制端和显示控制端,第一磁头11与双磁头信号转换装置13的第一控制端电连接,第二磁头12与双磁头信号转换装置13的第二控制端电连接,数显控制装置14与双磁头信号转换装置13的显示控制端电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京凯润达精密仪器有限公司,未经北京凯润达精密仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320501110.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。