[实用新型]零漂移运算放大器测试电路

权利要求书

1.一种零漂移运算放大器测试电路，用于对被测运放（DUT）进行测试，其特征在于，该测试电路包含：

辅助运放（U1），其正输入端电路连接所述被测运放（DUT）的输出端，其输出端输出辅助运放输出（VL）；该辅助运放（U1）与被测运放（DUT）构成负反馈闭环系统；

第一控制开关（S9）、第二控制开关（S10）、第三控制开关（S5）和第四控制开关（S6）；其分别外接偏置电压源，控制测试电路连接外接的参考电压（VREF）或对地设定电压（VSET）；第一控制开关（S9） 电路连接所述被测运放（DUT）的正输入端与负输入端，第二控制开关（S10）电路连接所述被测运放（DUT）的正输入端，第三控制开关（S5）电路连接所述辅助运放（U1）的正输入端，第四控制开关（S6）电路连接所述辅助运放（U1）的负输入端；

输入端外接信号端口（IN）和输出端外接信号端口（OUT），其分别外接测试仪器；输入端外接信号端口（IN）电路连接被测运放（DUT）正输入端，输出端外接信号端口（OUT）电路连接被测运放（DUT）输出端。

2.如权利要求1所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，该测试电路还包含：

反馈电阻（RF），其两端电路连接所述被测运放（DUT）的正输入端与输出端；

输入电阻（Ri），其一端电路连接所述第一控制开关（S9），另一端电流连接所述被测运放（DUT）的输入端、第二控制开关（S10）与反馈电阻（RF）；

该输入电阻（Ri）与反馈电阻（RF）的比例确定辅助运放（U1）与被测运放（DUT）构成的负反馈闭环系统的闭环增益。

3.如权利要求2所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，所述辅助运放（U1）与被测运放（DUT）所构成的负反馈闭环系统的闭环增益采用500倍或1000倍。

4.如权利要求2所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，该测试电路包含并联连接的若干阻值相等的输入电阻（Ri），其分别电路连接所述被测运放（DUT）的正输入端或负输入端。

5.如权利要求2或4所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，所述输入电阻（Ri）并联连接有补偿电容。

6.如权利要求2或4所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，该测试电路还包含：偏置电流采样电阻（RB），其一端电路连接所述输入电阻（Ri）、反馈电阻（RF）与第二控制开关（S10），另一端电路连接所述被测运放（DUT）的输入端；用于被测运放（DUT）输入端偏置电流的采样。

7.如权利要求6所述的零漂移运算放大器测试电路，其特征在于，该测试电路包含并联连接的若干阻值相等的偏置电流采样电阻（RB），其分别一端电路连接所述输入电阻（Ri），另一端电路连接所述被测运放（DUT）的正输入端或负输入端。