[实用新型]一种磁共振质量控制多参数测试体模

权利要求书

1.一种磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：设置有壳体、多个测试层和定位构件；

所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁，所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端；

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管；

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。

2.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：所述上密封盖设置两个灌液口，所述灌液口固定设置于所述上密封盖。

3.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：所述上密封盖设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔，所述上密封盖与所述侧壁通过密封圈密封装配，尼龙螺丝装配于所述螺丝孔并抵压于所述密封圈使得所述上密封盖、所述密封圈和所述侧壁密封装配。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层和溢流层；或者

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层、溢流层中的任意两种或者任意三种或者任意四种。

5.根据权利要求4所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：所述网格测试层设置有网格盘体和矩形方孔，所述矩形方孔规则分布设置于所述网格圆盘,其中两个方孔填充为实体。

6.根据权利要求4所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述层厚测试层设置有层厚盘体、带有槽孔的“回”字形结构的主体和设置于主体外侧的四个斜面；

所述层厚盘体中心设有与所述槽孔相匹配的横截面为正方形的通孔，所述层厚圆盘的边缘处设置有用于通液、排气泡的第一半圆形通孔；

所述主体固定设置于所述层厚盘体，所述主体的中心与所述层厚盘体的中心重合，四个所述斜面一一对应固定装配于所述主体的侧面；

所述主体的外壁面自其左上角至右下角方向的对角线位置设置有装配槽，所述斜面固定装配于所述装配槽，所述斜面与水平面之间的夹角A的范围为10——20度。

7.根据权利要求6所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：所述夹角A的范围为14——16度。

8.根据权利要求6所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：所述夹角A的范围为15度。

9.根据权利要求6所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述高对比度分辨率测试层包括孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块和高对比度盘体，所述孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块分别设置于所述高对比度盘体；

所述高对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第二半圆形通孔；

所述孔式高对比度分辨率测试模块上设有呈半圆状分布的孔式测试模块，所述孔式测试模块设有孔径大小不同且与测试层垂直的测试孔，相同孔径的测试孔位于同一半径的半圆上，相同孔径的测试孔的外轮廓之间的最小间隔距离等于其孔径；

所述线对式高对比度分辨率测试模块设有垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块，垂直线对式测试模块沿频率方向分布,所述水平线对式测试模块沿相位编码方向分布，所述垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块均设有线性孔；

所述中心定位模块设置为一等腰直角三角形状的通孔，其中一个45°角的顶点位于所述高对比度分辨率测试层的中心。

10.根据权利要求6所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述低对比度测试层为孔式测试层，所述测试层由N组直径不同的圆孔组及低对比度盘体组成，所述圆孔组设置于所述低对比度盘体，每组圆孔组由M个直径相同、深度不同的圆孔组成,其中，N                                                2， M 2，所述圆孔的直径范围为2——8mm，所述圆孔的深度为0.2——1.0mm，所述低对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第三半圆形通孔。