[实用新型]一种高电流上升率的晶闸管芯片有效
申请号: | 201320460964.5 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN203415581U | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 王民安;王日新;汪杏娟;叶民强;黄富强;项建辉 | 申请(专利权)人: | 安徽省祁门县黄山电器有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L27/04;H01L29/74 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 杨大庆 |
地址: | 245600 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电流 上升 晶闸管 芯片 | ||
1.一种高电流上升率的晶闸管芯片,包括N型硅单晶片构成的长基区N,在长基区N的两侧设置有短基区P1、P2,在短基区P2上设置有阴极发射区(1)、短路点(8)和门极区(2);所述短基区P1上设置有背面金属层(3),阴极发射区(1)和门极区(2)上设置有正面金属层(4);其特征在于:所述的门极区(2)设置在阴极发射区(1)的中心位置,在门极区(2)和阴极发射区(1)间设置有隔离环(5);所述门极区(2)包括用于焊接引线的焊接区(21)以及与该焊接区相连的长条型延长区(22)。
2.根据权利要求1所述的高电流上升率的晶闸管芯片,其特征在于:所述门极区(2)为蝌蚪型结构;蝌蚪型头部为焊接区(21),尾部为延长区(22)。
3.根据权利要求1所述的高电流上升率的晶闸管芯片,其特征在于:所述靠近门极区(2)的第一排短路点(8)与隔离环(5)的最小距离为0.5~2mm,第一排短路点间的距离为0.5~3mm。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的高电流上升率的晶闸管芯片,其特征在于:在短基区P1、P2上还焊接有用于保护芯片和方便焊接的保护电极(6),保护电极(6)上设置有比隔离环(5)大的通孔(7)。
5.根据权利要求1所述的高电流上升率的晶闸管芯片,其特征在于:所述隔离环(5)为二氧化硅保护的隔离环。
6.根据权利要求1所述的高电流上升率的晶闸管芯片,其特征在于:所述背面金属层(3)和正面金属层(4)为自里向外依次设置由钛、镍、银层结合而成的金属层。
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