[实用新型]一种光纤传感器及测量系统有效
申请号: | 201320459638.2 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN203479701U | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 谭志新;李学金;陈郁芝 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41;G01N21/552 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 陈健 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光纤 传感器 测量 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于光学传感器领域,更具体地,涉及一种光纤传感器及测量系统。
背景技术
表面等离子体共振(SurfacePlasmonResonance,SPR)检测技术是过去三十年中最成功的生化检测技术,广泛应用于蛋白质组学、细胞信号传导、受体/配体、抗体/抗原分子垂钓、免疫识别、癌症研究和新药筛选等生命科学领域,可实现蛋白质—蛋白质,蛋白质—核酸,新药分子—靶蛋白等生物分子相互作用过程的实时和动态研究,已成为生命科学和制药研究上的标准工具。近年来,由于光纤表面等离子体共振传感器具有结构紧凑、灵敏度高、可实时监测、易于实现特异性检测,而且不需要标记样品,以及原位(in situ)在线监测等优点,获得广泛的研究关注。光纤表面等离子体共振传感器通常使用传统的多模光纤或单模光纤。多模光纤表面等离子体共振传感器多采用塑料包层的大芯径多模光纤制作,它具有简单可靠、测量方便等优点,然而由于参与传感的模式数众多,这使得吸收峰的半高宽较宽,并且灵敏度较低;单模光纤的表面等离子体共振传感器性能相比多模光纤SPR传感器有所提高,但是由于结构过于简单,模场呈台阶式分布,对倏逝场的调控不够,灵敏度也相对较低。
光子晶体光纤是一种新型光纤,它具有很好的设计灵活性,可调节和控制光的传输模式和电磁场分布,从而实现比传统光纤更好的传输特性,在通信、传感等领域有着很好的应用前景。2006年Hassani等人提出了一种基于光子晶体的光纤表面等离子体共振传感器,通过将传感通道集成在光纤的包层中,可利用芯模直接在外环壁金属膜表面上激发表面等离子体波,从而实现高灵敏度的检测,但是这种传感器设计要求在靠近纤芯的空气孔内表面镀膜,因此传感器的制备非常困难,而且这种设计缺少在中间环节中的内孔薄膜成膜形态的检查手段。2012年刘德明等人提出了一种基于全固态光子晶体光纤侧抛的光纤表面等离子体共振传感器设计,它采用普通玻璃光子晶体光纤制备,但是由于没有充分利用光子晶体光纤对电磁场的调控作用,其灵敏度低。现有技术还有待于改进和发展。
实用新型内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本实用新型提供了一种光纤传感器,其目的在于提高传感器的性能,且易于批量生产,由此解决现有技术由于没有充分利用光子晶体光纤对电磁场的调控作用,而导致传感器的性能不足的问题。
本实用新型提供了一种光纤传感器,包括D形光子晶体光纤,所述D形光子晶体光纤的横截面呈D形使得所述D形光子晶体光纤具有一平面,其所述平面附着有纳米金属传感层。
更进一步地,所述D形光子晶体光纤上设置有中心气孔和周围气孔,所述周围气孔在所述中心气孔的周围沿着轴向规则排列,所述周围气孔用于限制光场的外泄。
更进一步地,所述D形光子晶体光纤为空心光子晶体光纤,且所述空心光子晶体光纤的中心孔中填充有用于调控传输光的折射率和色散性的溶液。
更进一步地,所述溶液为甲醇和乙二醇的混合物。
更进一步地,所述D形光子晶体光纤也可为含氟塑料光子晶体光纤,所述含氟塑料光子晶体光纤的中心为实心且周围设置有限制气孔。
更进一步地,所述纳米金属传感层为金属平面膜、金属纳米粒子或金属阵列微结构。
更进一步地,所述金属平面膜的厚度为20nm-80nm。
所述金属膜可为不规则排列的纳米粒子,或具有微阵列结构的纳米金属附着物。
本实用新型还提供了一种光纤传感器测量系统,包括:依次连接的光源、偏振控制器和聚焦透镜,依次连接的检偏器、探测器和信号处理单元,输入端通过保偏光纤与所述聚焦透镜的输出端连接、且输出端通过保偏光纤与所述检偏器的输入端连接的耦合器,以及与所述耦合器的控制端连接且设置于待测溶液中的光纤传感器;工作时,光源发出的光经过偏振控制器变成垂直于光纤传感器侧抛面的线偏振光,线偏振光经过聚焦透镜被聚焦并耦合到保偏光纤中,由保偏光纤作为传输通道将光信号经由耦合器进入光纤传感器中进行传感,传感后的光信号在终端上被反射后再次经过传感区,通过耦合器由保偏光纤传输至检偏器过滤噪声后进入探测器进行光电转换,由信号处理单元进行信号解调,从而检测得到金属表面区域的折射率系数,并进一步获得传感器表面的待测信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳大学,未经深圳大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320459638.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。