[实用新型]发光二极管的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及两脚发光管的测试技术，特别是一种提高测试效率的发光二极管的测试装置。

背景技术

发光二极管简称LED，LED在封装完成后需要进行光电学特性的测试。现有技术对LED测试，主要还是以手工逐一测试，效率低下，导致生产成本居高。针对这一问题，已有一些研究成果出现，如中国专利申请号为：01274956.7，名称为发光二极管测试机台的自动化装置，主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，一组进料结构由下列各构件所组成，其进料端为一圆形振动盘，并有一平形振动盘与其相连接，且该平形振动盘延伸至测试区前端，并与测试组前端相连接；该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪，该挡爪为一弹簧联动体；该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口，其与空气输送管连接；平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组；挡爪末端处设置有一导正爪，导正爪后端设置有一带料爪组，其呈一Γ型，前端立面处设置有数个等距缺口；一组定位测试结构由一定位爪组，设置于带料爪组对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口，并与各测试站相对应；定位爪组的正下方为一测试组，其前端与平形振动盘的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站，第一测试站下设一极性测试框脚探针座，第二测试站下为一旋转座，第三测试站下方为另一框脚探针座，其主要由该框脚探针座与发光二极管的针脚产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头。该技术方案相对于人工可以提高测试效率，但结构显然复杂，设备成本高，测试效率也不尽人意。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种可显著提高效率的发光二极管的测试装置。

本实用新型的技术方案是：发光二极管的测试装置，其特征在于所述测试装置包括：与振动盘衔接的LED座台，该LED座台开有L形直角通槽，其中短边通槽槽的宽度大于引脚的厚度小于两引脚之间的最大距离，并与振动盘出料口对接，宽度对应，长边通槽宽度大于两引脚之间的最大距离，LED座台的高度小于LED引脚的长度，当LED头部座于LED座台的上平面时，以及LED在转动时，LED的两引脚的一部分都露于LED座台之外；

位于LED座台后侧安装有光传感器；

安装在LED座台正前方的电机，该电机轴的轴线指向LED座台台面短边通槽的位置，该电机轴连接一由横杆和纵杆组成的直角拐杆，直角拐杆的横杆的长度大于LED座台的横向最大尺寸的二分之一，小于LED正极引脚的长度，使直角拐杆的纵杆作圆周运行时不触及LED座台而能够拨动LED引脚翻转；

在所述LED座台的长边通槽槽口方向正对的右侧，设置有提供测试电压的弹簧触片装置，该装置包括安装在绝缘台板上且位置相错的正负极触片；

在所述LED座台台面的左侧安装一挡板，该挡板的内面制有凹坑，当LED引脚被直角拐杆的纵杆逐渐带动触及弹簧触片时，LED顶面逐渐进入凹坑被抵靠，LED引脚则迫使弹簧触片弹性变形使LED通电；当直角拐杆的纵杆继续沿圆周轨迹运行时，拨动LED引脚脱离弹簧触片继续向上翻转，直至被挡板上沿支承，然后以该上沿为支点继续向外翻转，直至LED在重力作用下离开测试机构向下掉落至接料斗内。

所述光传感器和电机与控制器电连接。

所述挡板的上部向内弧面弯曲，其下表面自端沿起开有弧面凹槽直至与所述凹坑连通。

所述的正负极弹簧触片的接触点面向所述LED座台的长边通槽的槽口，其中正极触片的接触点至所述挡板的距离L4小于的最大长度的范围为0.5-2mm，负极触片的接触点至所述挡板的距离为L4减L2，其中L2为LED正负极引脚的长度差；在正极触片和负极触片之间设置有分隔楔，楔体的厚度基本等于正极触片和负极触片之间的距离，也基本等于LED正负极引脚之间的距离。

所述的正极触片和负极触片底部均开有供螺钉将其固定于绝缘板上的用于调节位置的长圆孔。

本实用新型由于将被测LED在翻转动态过程中与静态的弹簧触片滑触而被瞬间通电，光传感器将接收到的信号通过控制器分析，测试效率显著提高，检测流程实现自动化,并可依测试结果分类收集，结构简单，有利于量产化的成本控制。

附图说明：

图1为本实用新型的结构示意图。

图2表示LED的纵向尺寸。

图3为图1中D处局部放大图。

图4-图7为本实用新型被直角拐杆的纵杆拨动LED引脚不同时刻的LED翻转状态示意图。

图8为图1中LED被翻转开始下落到分类收集机构时的状态示意图。