[实用新型]一种致冷件性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体器件测试领域，具体地说是涉及一种致冷件性能测试装置。

背景技术

在现有技术中，测试半导体器件在不同的电压下的性能是分别将半导体器件连接在不同的电压上进行测试，由于致冷件要分别地连接不同电压，存在测试效率低、操作复杂的缺点。

发明内容

本实用新型的目的就是针对上述缺点，提供一种效率高、测试简单的一种致冷件性能测试装置。

本实用新型的技术方案是这样实现的：一种致冷件性能测试装置，包括测试装置本体，其特征在于：所述的测试装置本体上设有电源，所述的电源正极连接电压调节器，所述的电压调节器连接测试仪，所述的测试仪连接电源负极，所述的测试仪设有1-5个。

在使用时，只需将致冷件放置到测试仪内，通过电压调节器进行调节不同电压，进行致冷件测试。

本实用新型的有益效果是：这样结构的一种致冷件性能测试装置具有效率高、测试简单的优点。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

其中 1、测试装置本体2、电源3、电压调节器4、测试仪。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

如图1所示，一种致冷件性能测试装置，包括测试装置本体1，其特征在于：所述的测试装置本体1上设有电源2，所述的电源2正极连接电压调节器3，所述的电压调节器3连接测试仪4，所述的测试仪4连接电源2负极，所述的测试仪4设有1-5个。

在使用时，只需将致冷件放置到测试仪4内，通过电压调节器3进行调节不同电压，进行致冷件测试。

这样结构的一种致冷件性能测试装置具有效率高、测试简单的优点。