[实用新型]光学平板测微器有效

专利信息
申请号: 201320443925.4 申请日: 2013-07-24
公开(公告)号: CN203323745U 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 王志强;刘松年;吴国通;曾庆胜 申请(专利权)人: 苏州凤凰索卡亚光电科技有限公司
主分类号: G01C9/02 分类号: G01C9/02
代理公司: 苏州慧通知识产权代理事务所(普通合伙) 32239 代理人: 安纪平
地址: 215121 江苏省苏州市工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光学 平板 测微器
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及测绘仪器技术领域,尤其是涉及一种作为测绘仪器的测量附件的光学平板测微器。

背景技术

在水准测量、变形和沉降观测、精密机械测量和大型设备的水平定位、安装中,需要使用水准仪,而平板测微器是水准仪的一种光学测量附件。与水准仪配合可实现光线微位移测量,特别用于水准仪的精密水准测量。

目前,市场上使用的平板测微器有两种:光学平板测微器和电子读数平板测微器。其中,电子读数平板测微器有多种形式,如直接测量光学平板转动的角量式电子读数平板测微器以及先用机构把光学平板转动的角量变为直线运动的线量,再测量所述线量的电容式和CCD(电荷耦合元件)式电子读数平板测微器。

角量式电子读数平板测微器,结构复杂,这一技术在实际生产中难以得到应用。

电容式电子读数平板测微器,不能承受野外作业的恶劣环境,同时每测量一次必须置一次零位,造成使用仪器的较大不便,如果一次疏忽没有置零,将造成整个测量工作的前功尽弃,但其功耗小,适用于野外测量。

CCD式电子读数平板测微器,光学平板转动的角量θ与光线的位移6之间存在固定函数关系,平板测微器通过正切机构把光学平板转动的角量变为直线运动的线量,再用CCD光电传感器,测量线性位移L,根据光学平板转动的角量θ与线性位移L的正切关系,经计算,即可得到光线的位移6。由于CCD光电传感器属绝对编码传感器,故没有电容式电子读数平板测微器的零位问题,且不受外部环境影响,但是由于使用了正切机构,其由L经θ得到6的算式其非线性误差较大;且由于平板玻璃边上空间有限,其正切机构安排不便,故结构较复杂,影响使用寿命。

而现有的光学平板测微器结构复杂,且读数时受人为因素的影响,会直接降低水准仪等测绘仪器的测量精度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种通过齿轮齿杆带动平晶玻璃转动,将平晶玻璃的转动角量转化为线量并对线量加以放大细分,得到水准仪精确读数的光学平板测微器。

为实现上述目的,本实用新型提出如下技术方案:一种光学平板测微器,包括壳体以及设置在壳体上的平晶玻璃、齿轮、齿杆、平板标尺、固定装置,所述平晶玻璃安装在壳体内的一侧,所述平晶玻璃通过齿杆与所述平板标尺固定连接,所述齿轮与齿杆连接,所述齿杆在所述齿轮的驱动下,带动所述平晶玻璃和平板标尺分别发生偏转和移动。

优选地,所述平晶玻璃通过两个设置于所述壳体两侧的轴承铰接至所述壳体内的一侧。

所述齿杆和齿轮上均设置有轮齿,所述齿杆上设置有锯齿,所述齿轮上设置有与所述锯齿相配合的轮齿,所述齿杆通过锯齿与所述齿轮啮合传动。

还包括目镜,所述目镜固定安装在与所述平晶玻璃相对一端的壳体外侧。

所述固定装置包括设置在壳体上的锁紧机构和固定块,所述锁紧机构包括锁紧杆,靠近目镜的壳体一侧开有一通孔,所述锁紧杆栓插在该通孔内。

还包括安装在壳体外侧的调节手轮,所述调节手轮与齿轮固定连接或为一体式连接。

还包括标尺棱镜,所述标尺棱镜固定设置在壳体内,且与平板标尺平行。

还包括固定设置在所述平晶玻璃和标尺棱镜之间的物镜。

在壳体内还设置有脚垫,用于减少测绘仪器与平板测微器之间的摩擦。

本实用新型的有益效果是:(1)与水准仪配合使用,将水准仪的读数精确到0.1毫米,提高了水准仪的测量精度,使其适用于一、二等水准测量;(2)结构上增加了脚垫,减少了测微器与测绘仪器金属件之间的摩擦;(3)结构简单,体积较小,便于携带且适应性较强。

附图说明

图1是本实用新型光学平板测微器壳体内部的平面结构示意图;

图2是本实用新型光学平板测微器的立体结构示意图;

图3是本实用新型光学平板测微器的工作原理示意图;

图4是本实用新型光学平板测微器读数原理示意图。

附图标记:1、壳体,2、平晶玻璃,3、齿轮,4、齿杆,5、平板标尺,6、调节手轮,7、固定装置,71、固定块,72、锁紧机构,721、锁紧杆,8、目镜,9、标尺棱镜,10、轴承,11、通孔,12、脚垫。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图,对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。

本实用新型所揭示的一种光学平板测微器,作为测绘仪器的测量附件,一般与测绘仪器中的水准仪配合使用,用于提高水准仪的测量精度,使其适应更高的测量等级。

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