[实用新型]集成电路功能测试仪

说明书

技术领域：

本实用新型涉及一种集成电路功能测试仪。

背景技术：

集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。　　

在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC）、数模转换器(DAC)、555集成定时电路、3524开关电源控制器等中规模集成电路。由于学生通常是初次接触使用芯片，经常会由于操作不当造成电路芯片的损伤或损坏，而表面上却无法作出正确的判断。在这种情况下，非常需要有适当的集成电路的测试仪，用于测试、判断芯片的好坏。而市面上又没有合适的测试仪可供选购。

发明内容：

本实用新型的目的是提供一种集成电路功能测试仪。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体，所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接，所述的A/D转换芯片。

所述的集成电路功能测试仪，所述的电源电路与安装在所述的壳体外部的电源指示灯连接。

所述的集成电路功能测试仪，所述的中央处理器为AT89C55单片机、所述的地址译码器分别与ADC0809测试电路、DAC0832测试电路、LM555测试电路、WC3524测试电路连接。

有益效果：

本实用新型在接通电源后，电源指示灯亮，表明电源工作正常，显示器显示等待测试信息，表明可以开始测试操作。由按键选择所要测试的芯片，显示光标停留的芯片型号表示是当前待测芯片。每按1次选择键，光标指向下一个型号，不断地按键可以循环选择。当光标移到所要测试的芯片时，按下确定键2，接下来由单片机控制，开始自动测试该芯片，此时对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片一定的模拟或数字输入量，经过每个芯片的测试电路后，通过MAX197进行处理（或直接送到单片机），与单片机中预存的标准值进行比较。如果测试值在标准值附近的一定范围内，则芯片正常，测试指示灯常亮，液晶显示器显示OK；否则，芯片出错，测试指示灯闪烁，液晶显示器显示BAD。此芯片测试完毕，按下复位键3，即回到初始状态，可以进行下一轮测试。操作简单、测试准确、效率高。

附图说明：

附图1是本实用新型的结构示意图。

附图2是附图1中ADC0809测试电路的电路原理图。

附图3是附图1中DAC0832测试电路的电路原理图。

附图4是附图1中LM555测试电路的电路原理图。

附图5是附图1中WC3524测试电路的电路原理图。

附图6是附图1中WC3524测试电路的框图。

具体实施方式：

实施例1：

一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体1，所述的壳体上安装有显示屏2、控制按钮3，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器4连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片5、地址译码器6、电源电路7连接，所述的A/D转换芯片。

所述的地址译码器分别与ADC0809测试电路8、DAC0832测试电路9、LM555测试电路10、WC3524测试电路11连接。

实施例2：

根据实施例1所述的集成电路功能测试仪，所述的电源电路与安装在所述的壳体外部的电源指示灯连接。

实施例3：

根据实施例1或2所述的集成电路功能测试仪，所述的中央处理器为AT89C55单片机。

实施例4：