[实用新型]自动光学检测托盘

说明书

技术领域

本实用新型设计一种托盘，具体为自动光学检测托盘。

背景技术

现有的自动光学检测（AOI）对单个小板使用“O”行测试时，通常是将物料盘的上的每个单独小板进行单独定位后再进行测试，一块物料盘的上有很多个单独小板，甚至多达到几百片，因此每个小板单独定位会导致测试定位点时间很长；同时由于单个小板较小，夹具制作精度要求达不到，再加上单独小板的尺寸也有一定误差，导致测试时定位不准而造成误报率非常高，并且在测试过程中经常会出现找不到定位点而中断测试。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型提供一种高效、定位准确的测试托盘，具体的技术方案为：

自动光学检测托盘，包括盘体，盘体上有定位孔和把手，盘体中间有槽体，槽体的凹腔用于放置物料盘，所述的槽体边缘有卡扣，物料盘放置在槽体内，旋转卡扣将物料盘固定住。

所述的卡扣有多个，位于槽体同一边缘的卡扣通过连杆连接起来实现联动。

所述的槽体的一个边缘有滑槽，滑槽的上开口在盘体表面上，滑槽的下开口与槽体连接，滑槽的上开口宽度大于下开口宽度，在放置物料盘时候，滑槽起到导向作用。

所述的槽体的四个角有高度调整装置。

所述的高度调整装置包括槽体底部的四个角各有一个圆孔，圆孔内放置有弹簧。

本实用新型提供的自动光学检测托盘，代替传统的自动光学检测夹具，将需要测试的单个小板连同物料盘当作一个整体元件放入自动光学检测托盘中，在测试时只需测试一次自动光学检测托盘上的定位孔，采用配套的测试软件进行整体元件测试，可以降低测试误报率，缩短了测试时间。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

结合附图说明本实用新型的具体实施方式，如图1所示，自动光学检测托盘，包括盘体1，盘体1上有定位孔2和把手3，盘体2中间有槽体6，槽体6的凹腔用于放置物料盘，槽体6的凹腔深度与物料盘高度相同，所述的槽体6边缘有卡扣4，物料盘放置在槽体6内，旋转卡扣4将物料盘固定住。

卡扣有四个，对称的放置于槽体6左右两侧边缘，位于槽体6同一边缘的两个卡扣4通过连杆5连接起来实现联动。

所述的槽体6的一个边缘有滑槽7，滑槽7的上开口在盘体1表面上，滑槽7的下开口与槽体6连接，滑槽7的上开口宽度大于下开口宽度，在放置物料盘时候，滑槽7起到导向作用，物料盘放置的时候，从滑槽7的上开口处沿着滑槽7滑入到槽体6内。

所述的槽体6底部的四个角有高度调整装置8，高度调整装置8包括槽体6的四个角各有一个圆孔，圆孔内放置有弹簧。物料盘在槽体6内放置好，旋转卡扣4将物料盘固定在槽体6内，当物料盘有误差不平整时候，高度调整装置8可以调整平整度。

物料盘固定后，将盘体1放在自动光学检测仪器上，利用定位孔2进行定位。定位完成后，进行测试。