[实用新型]一种阵列基板和显示器

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示器技术领域，尤其涉及一种阵列基板和显示器。

背景技术

制作阵列基板时，需要在基板上形成薄膜晶体管像素电路，阵列测试（Array Tester，AT）设备对形成薄膜晶体管像素电路的基板上的薄膜晶体管像素进行测试，对于用独立信号测试薄膜晶体管像素的基板，如图1所示。在进行切割工艺之前的阵列基板上形成有多个显示区域；在本实用新型中，为了便于对方案进行描述，将每个显示区域对应的基板视为一个单一基板；例如图1中的基板11、基板12、基板13和基板14。

AT设备在对基板11、基板12、基板13、基板14中的薄膜晶体管像素进行测试之前，会预先对单个基板，如基板11、基板12、基板13、基板14进行短路检测，测试信号包括开关SW信号、扫描奇数信号GO、扫描偶数信号GE、数据奇数信号DO、数据偶数信号DE和公共电极信号VC，测试信号分别加载到基板11、基板12、基板13、基板14中进行短路检测，如果发现基板内部存在短路时，会调用特殊的信号进行测试，提高了设备测试的准确性与检出能力。对于由多个单一基板构成的基板组（Q panel），由于AT设备提供的测试信号数量有限（普通AT设备6路，特殊AT设备最多15路），AT设备无法对Q panel中的每个单一基板都设计独立的测试信号，即Q panel的测试信号是连接在一起的，如图2所示。Q panel中的单一基板，如基板21、基板22、基板23、基板24的测试信号是连接在一起的，测试信号包括开关SW信号、扫描奇数信号GO、扫描偶数信号GE、数据奇数信号DO、数据偶数信号DE和公共电极信号VC，测试信号同时加载到基板21、基板22、基板23、基板24中进行短路检测，因此，短路检测时无法区分哪个单一基板存在短路。

综上所述，现有技术中的Q panel短路性检测时，不同单一基板的测试信号是连接在一起的，即测试信号为共用信号，检测得到的短路性不良无法确定对应的单一基板，因此不能应用短路检测对存在短路性不良的单一基板进行预先检测，这大大降低短路性不良的检出率。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种阵列基板和显示器，用以解决由于Q panel中各单一基板公用测试信号导致的无法确定发生短路的具体单一基板的问题。

本实用新型实施例提供的一种阵列基板，包括Q panel，该阵列基板还包括：分配单元和多个保存单元；

其中，分配单元包括开关信号输入端、至少一个分配单元控制信号输入端，以及多个输出端，其中每一输出端与一个保存单元相连；分配单元根据开关信号和分配单元控制信号的控制，每次向一个保存单元输出控制信号；

保存单元包括开关信号输入端、保存单元控制信号输入端和输出端，其中该保存单元控制信号输入端与分配单元的一个输出端相连，该保存单元的输出端与Q panel中的一个单一基板相连；保存单元根据开关信号和分配单元输出的控制信号的控制，向其连接的单一基板发送控制信号，用以控制该单一基板加载测试信号。

本实用新型实施例还提供了一种显示器，包括所述的阵列基板。

综上所述，本实用新型实施例的阵列基板和显示器，阵列基板包括Q panel，该阵列基板还包括：分配单元和多个保存单元；其中，分配单元包括开关信号输入端、至少一个分配单元控制信号输入端，以及多个输出端，其中每一输出端与一个保存单元相连；分配单元根据开关信号和分配单元控制信号的控制，每次向一个保存单元输出控制信号；保存单元包括开关信号输入端、保存单元控制信号输入端和输出端，其中该保存单元控制信号输入端与分配单元的一个输出端相连，该保存单元的输出端与Q panel中的一个单一基板相连；保存单元根据开关信号和分配单元输出的控制信号的控制，向其连接的单一基板发送控制信号，用以控制该单一基板加载测试信号，因此，通过分配单元和保存单元，控制对Q panel中的每个单一基板单独加载测试信号，解决了目前Q panel中各单一基板公用测试信号导致无法确定发生短路的具体单一基板的问题，提高了短路不良的检出率。

附图说明

图1为现有技术中单一基板信号走线示意图；

图2为现有技术中Q panel信号走线示意图；

图3为本实用新型实施例中Q panel信号走线示意图。

具体实施方式

本实用新型实施例提供了一种阵列基板和显示器，用以解决由于Q panel中各单一基板公用测试信号导致的无法确定发生短路的具体单一基板的问题。

下面给出本实用新型实施例提供的技术方案的详细介绍。