[实用新型]断路器行程检测装置有效
申请号: | 201320400979.2 | 申请日: | 2013-07-05 |
公开(公告)号: | CN203310393U | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 刘景安 | 申请(专利权)人: | 北京慧智神光科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02;G01D5/02 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴开磊 |
地址: | 100088 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 断路器 行程 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及行程检测工具领域,具体而言,涉及断路器行程检测装置。
背景技术
相关技术中,行程检测时,测量直线位移的工具通常会用到直线位移传感器。使用时,将直线位移传感器固定到被测设备上,直线位移传感器通过测量被测设备的直线位移,从而得出被测设备的时间—位移曲线。
但是,直线位移传感器需要安装空间较大,应用起来就会有很多限制。在用于一些结构紧凑、空间有限的场合时,如高压断路器触头的直线位移检测,需要将直线位移传感器安装在断路器的触头上,但是高压断路器的触头周围并没有足够的空间,这样便无法进行测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种断路器行程检测装置,以解决上述的问题。
在本实用新型的实施例中提供的断路器行程检测装置,包括:
角位移传感器、滚动轮、支撑板和用于将所述支撑板与所述被检测设备固定连接的固定部;
所述支撑板固定于所述固定部上;
所述角位移传感器包括转轴和用于检测转轴的角度位移的角位移传感器本体;
所述转轴和所述角位移传感器本体连接,所述角位移传感器本体与所述支撑板固定连接;
所述支撑板上设有通孔,所述转轴穿过所述通孔并与所述滚动轮连接;所述转轴、所述通孔以及所述滚动轮共轴。
本实用新型上述实施例的断路器行程检测装置在使用时,事先在被检测设备上设置用于与上述滚动轮配合的第二摩擦部,该第二摩擦部沿所述被检测设备的移动方向设置。之后通过滚动轮与被检测设备的第二摩擦部接触,这样在被检测设备直线移动的过程中,第二摩擦部带动滚动轮转动,滚动轮又带动角位移传感器的转轴转动,角位移传感器通过测量转轴与角位移传感器本体之间的相对旋转角度,并将角度位移转化为电信号输出,从而测量出被检测设备的直线位移。
附图说明
图1示出了本实用新型实施例二的断路器行程检测装置的结构示意图;
图2示出了本实用新型实施例二的断路器行程检测装置的固定部与第一固定轴连接部分的结构示意图;
图3示出了本实用新型实施例二的断路器行程检测装置的角位移传感器与滚动轮连接结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体的实施例子并结合附图对本实用新型做进一步的详细描述。
本实用新型实施例一的断路器行程检测装置包括:角位移传感器、滚动轮、支撑板和用于将支撑板与被检测设备固定连接的固定部;支撑板固定于固定部上;角位移传感器包括转轴和用于检测转轴的角度位移的角位移传感器本体;转轴和角位移传感器本体连接,角位移传感器本体与支撑板固定连接;支撑板上设有通孔,转轴穿过通孔并与滚动轮连接;转轴、通孔以及滚动轮共轴。本实用新型实施例一的被检测设备包括:用于与滚动轮配合的第二摩擦部,第二摩擦部沿被检测设备的移动方向设置。这样本实施例的断路器行程检测装置在使用时,通过滚动轮与被检测设备的第二摩擦部接触,这样在被检测设备直线移动的过程中,第二摩擦部带动滚动轮转动,滚动轮又带动角位移传感器的转轴转动,角位移传感器通过测量转轴与角位移传感器本体之间的相对旋转角度,并将角度位移转化为电信号输出,从而测量出被检测设备的直线位移。
本实用新型实施例二的断路器行程检测装置和被检测设备结构示意图如图1、图2和图3所示。其中,断路器行程检测装置1包括:角位移传感器3、滚动轮13、支撑板12和用于将支撑板12与被检测设备2固定连接的固定部5;支撑板12固定于固定部5上;角位移传感器3包括转轴15和用于检测转轴15的角度位移的角位移传感器本体4;转轴15和角位移传感器本体4连接,角位移传感器本体4与支撑板12固定连接;支撑板12上设有通孔16,转轴15穿过通孔16并与滚动轮13连接;转轴15、通孔16以及滚动轮13共轴。本实用新型实施例二的被检测设备2包括:用于与滚动轮13配合的第二摩擦部14,第二摩擦部14沿被检测设备2的移动方向设置。这样本实施例的断路器行程检测装置1在使用时,通过滚动轮13与被检测设备2的第二摩擦部14接触,这样在被检测设备2直线移动的过程中,第二摩擦部14带动滚动轮13转动,滚动轮13又带动角位移传感器3的转轴15转动,角位移传感器3通过测量转轴15与角位移传感器本体4之间的相对旋转角度,并将角度位移转化为电信号输出,从而测量出被检测设备2的直线位移。
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