[实用新型]一种X-荧光光谱分析用样品盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域，具体提供一种X-荧光光谱分析用样品盒。

背景技术

X-荧光光谱分析中通常利用样品盒承载样品。现有技术下的样品盒主要由盒体、盒盖、面罩、支撑弹簧及顶板构成。样品置于顶板与面罩之间，设置在面罩中心的圆孔规定着样品检测面的位置和大小，通常称其为检测孔或观测孔，其余部分被面罩所屏蔽而不能检测。即对于固定在样品盒的样品来说，其检测位置和大小就被面罩所固定下来。如果要改变检测位置或检测被面罩屏蔽的地方，以便对样品的均匀性或其它特性进行检验，则比较困难，只有借用其它专用仪器才能完成。

发明内容

本实用新型是针对上述现有技术的不足，提供一种设计合理，便于对样品的不同部位进行检测的X-荧光光谱分析用样品盒。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种X-荧光光谱分析用样品盒，由盒体、盒盖、支撑弹簧、顶板及面罩构成，盒盖旋接在盒体开口端，支撑弹簧、顶板及面罩自下而上依次抵压设置在盒体底面与盒盖之间，盒盖上开有透射孔，面罩上开有检测孔，其特点是，面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径，且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。

为了便于旋转面罩，调节面罩上检测孔的位置，可以在面罩上固定调节手柄。

面罩上检测孔的轴心与盒盖上透射孔的轴心之间的间距优选为0.5-14mm。

透射孔的直径为30mm，检测孔的直径优选为1-29mm。

本实用新型的X-荧光光谱分析用样品盒和现有技术相比，具有以下突出的有益效果：

(一)通过旋转面罩及更换检测孔偏离程度不同的面罩，就能对样品的不同部位进行检测，以便对样品的均匀性或其他性质进行检验，使用灵活方便，检测效率高；

(二)无需借助其它仪器即可完成样品的均匀性检测，检测成本大幅度降低；

(三)可以使用均匀样品对激发源光束的强度分布进行检验，有效地开发了仪器的功能，扩展了仪器的使用范围。

附图说明

附图1是实施例一X-荧光光谱分析用样品盒的结构示意图；

附图2是图1所示样品盒的A向结构示意图；

附图3是实施例二X-荧光光谱分析用样品盒的结构示意图；

附图4是图3所示样品盒的B向结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为对本实用新型的限定。

实施例一：

一种X-荧光光谱分析用样品盒，由盒体1、盒盖2、支撑弹簧3、顶板4及面罩5构成。

盒盖2旋接在盒体1开口端。支撑弹簧3、顶板4及面罩5自下而上依次抵压设置在盒体1底面与盒盖2之间。盒盖2上开有透射孔6。面罩5上开有检测孔7，并固定有调节手柄8。

透射孔6的直径为30mm，检测孔7的直径为10mm。透射孔6的轴心与检测孔7的轴心距离8mm。

实施例二：

一种X-荧光光谱分析用样品盒，由盒体1、盒盖2、支撑弹簧3、顶板4及面罩5构成。

盒体1、盒盖2、支撑弹簧3、顶板4及面罩5的结构及相对关系与实施例一相同。区别在于检测孔7的直径大于透射孔6的半径。

透射孔6的直径为30mm，检测孔7的直径为20mm。透射孔6的轴心与检测孔7的轴心距离3mm。

以上所述的实施例，只是本实用新型较优选的具体实施方式，本领域的技术人员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。