[实用新型]信号加载单元及显示器件的探针检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电性测验技术领域，特别涉及一种信号加载单元及显示器件的探针检测装置。

背景技术

显示器件的检测过程中，特别是液晶显示装置，液晶显示装置包括液晶面板，为保证液晶显示装置的产品良率，需要对液晶面板中的薄膜晶体管TFT阵列进行电性测验，以检测TFT阵列中是否存在电性缺陷。

目前采用的探针检测装置中的信号加载单元包括探针组合可移动支架、安装于探针组合可移动支架上的探针组合、多个折叠铜片。其中，探针组合可移动支架的一面具有多组探针总线信号线；探针组合具有本体和安装于本体上的多个金属触点，多个折叠铜片与多个金属触点一一对应，且每一个折叠铜片安装于对应的金属触点上，并与金属触点电性连接。探针组合安装在探针组合可移动支架上时，探针组合具有的金属触点与探针组合可移动支架的探针总线信号线相对，且通过折叠铜片与对应的探针总线信号线电性连接。

为了提高金属触点与探针总线信号线之间电性连接的稳定性，折叠铜片折叠成菱形结构，且折叠铜片相对的两个棱边中，一个棱边固定在探针组合的本体上，另一个棱边与该金属触点对应的探针总线信号线相抵，以使折叠铜片在探针组合的本体指向探针总线信号线的方向上具有一定的弹性。

但是，由于在具体操作过程中，不同规格的液晶面板使用的探针组合的规格不同，经常需要使用机械手根据液晶面板的需求对安装在探针组合可移动支架上的探针组合进行拆卸和装载。在机械手对探针组合进行拆卸或者装载的过程中，探针组合上的折叠铜片会与探针组合可移动支架上的探针总线信号线的接触面之间产生硬摩擦，由于折叠铜片只有一个棱边与探针组合的金属触点连接，折叠铜片在与探针总线信号线的接触面摩擦时极易导致折叠铜片自探针组合的金属触点上脱落，进而造成内电路的断路或者短路，影响检测结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型提供了一种信号加载单元及显示器件的探针检测装置，该信号加载单元的结构稳定，且显示器件的探针检测机使用该信号加载单元后检测结果准确性高。

为达到上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种显示器件探针检测装置的信号加载单元，包括至少一个探针组合和具有多条探针总线信号线的探针组合可移动支架，每一个所述探针组合包括本体和位于所述本体一面上的多个可导电触点，每一个所述可导电触点具有开口背离所述本体的接触槽；所述信号加载单元还包括：

限位于所述接触槽内的接触块和安装于所述接触块与所述可导电触点之间的可导电弹性复位件，所述接触块可回缩入所述接触槽且在所述可导电弹性复位件的弹力下部分探出所述接触槽；所述探针组合安装于所述探针组合可移动支架时，所述本体具有所述可导电触点的一面与所述探针组合可移动支架上的探针总线信号线相对，且所述接触块在所述可导电弹性复位件的弹力下与所述探针总线信号线相抵。

优选地，所述可导电弹性复位件为处于蓄力状态的金属弹簧，所述金属弹簧的一端与所述接触槽的槽底相抵，另一端与所述接触块连接。

优选地，所述接触块与所述探针总线信号线相抵的一面为弧形凸面，所述探针总线信号线朝向所述接触块的一面为与所述弧形凸面匹配的弧形凹面。

优选地，所述接触块为圆柱形的金属柱。

优选地，所述接触槽的开口的宽度小于所述金属柱的直径，使所述金属柱被限位于所述接触槽中。

优选地，所述接触块包括多个并行排列的滚珠，每一个所述滚珠伸出所述接触槽的开口与所述探针总线信号线相抵，且所述金属弹簧为多个，与所述滚珠一一对应。

优选地，所述探针总线信号线与每一个所述滚珠接触的面为凹向背离所述金属弹簧一侧的半球面。

优选地，所述接触槽的开口的宽度小于所述滚珠的直径，使所述滚珠被限位于所述接触槽中。

优选地，每一个所述可导电触点包括：固定于所述本体上的金属片，位于所述金属片背离所述本体一侧、内部具有所述接触槽的折叠金属片；所述探针组合还包括：

固定于所述本体具有金属片的一面、具有与所述金属片一一对应的插孔的固定板，所述折叠片固定于所述插孔且与所述金属片相抵。

优选地，所述接触块为钨铜合金材料的接触块。

优选地，还包括：

采集所述探针组合与所述探针组合可移动支架之间相对位置关系的信号采集单元；

当所述信号采集单元采集的位置信息与预定位置信息不一致时，判断该探针组合与所述探针组合可移动支架之间对位不准、并产生调节信号的信号处理单元，与所述信号采集单元信号连接；