[实用新型]一种薄膜挺度测试装置

说明书

技术领域

本申请涉及薄膜性能检测仪器领域，特别是涉及一种测试薄膜挺度的装置。

背景技术

目前，薄膜在包装领域得到了广泛的应用。薄膜挺度对包装的效果有着重要的影响，挺度小不仅影响产品外观而且容易导致在包装过程中卡机而影响产品产能，鉴于此薄膜挺度的测试是很有必要的。但目前市场上尚未有通用的检测薄膜挺度的仪器或方法。

中国专利CN201120227503、CN201120227801和CN20111018673公布了一种薄膜挺度的检测装置和手段，这些方法通过在X方向或者Y方向设定一个固定值，当薄膜移动到设定值时，通过传感器感应，记录此时薄膜在Y方向或者X方向的的位移量来表征薄膜挺度。但此法不能排除薄膜静电及周围环境的影响。

美国国家标准和工艺研究所（NIST）报道了一种薄膜挺度的检测方法，该法适用于高产量测试，但此法设备复杂，操作不易。

发明内容

本申请的目的在于提供一种结构改进的薄膜挺度测试装置。

为了实现上述目的，本申请所采用的技术方案如下：

本申请公开了一种薄膜挺度测试装置，包括夹具、传感器和检测平台，夹具的输出端与检测平台承接，传感器在检测平台末端，其中，检测平台在距离起点X距离的水平位置处具有一个固定角度的斜向下的斜面，传感器设置于该斜面处，挺度测试装置还包括静电棒，静电棒设置于检测平台正上方的5-20cm范围内。

需要说明的是，夹具的输出端与检测平台承接是指，夹具夹住薄膜后直接将薄膜输出到检测平台上，并将薄膜在检测平台上向前推进。还需要说明的是，检测平台的起点即检测平台与夹具的承接处，在距离起点X距离的水平位置处，即在检测薄膜经过一定的水平位移后的位置处。本申请中，设置固定角度的斜向下的斜面的作用是，在薄膜克服自身挺度后，在其自身重力下，自然弯折下垂到斜面上，此时下垂到斜面上的长度即表征本申请的挺度。

进一步的，挺度测试装置还具有外壳，该外壳将夹具、传感器、检测平台和静电棒全部罩住，为挺度检测提供一个与外界隔离的环境，避免挺度检测受外界干扰。

进一步的，在斜面上设置有可拆卸的标尺。该标尺用于量取在斜面上的薄膜的长度，此长度即用于表征薄膜的挺度。

优选的，本申请中的传感器为压力传感器或光电传感器，用于检测薄膜下垂到检测平台的斜面的情况。在传感器检测到薄膜下垂到检测平台的斜面上后，可以通过自动控制系统夹具停止转动，即停止推进薄膜，也可以通过发出警报通知操作人员停止夹具，操作人员根据薄膜下垂到斜面上的长度即可判断薄膜的挺度。

本申请的一种实现方式中，夹具为上下设置的一对圆柱形辊轴，该棍轴夹住薄膜，在辊轴转动时，将薄膜向前推进。

由于采用以上技术方案，本申请的有益效果在于：

本申请的薄膜挺度测试装置，在现有的挺度测试装置基础上进行改进，具体的，在其中添加了一个静电棒，以避免静电对检测的影响，从而提高检测效率和准确性；同时，在薄膜的水平位移方向设置一个检测平台，便于薄膜自然的在上面移动，并在检测平台的末端设计一个固定角度的向下倾斜的斜面，以便于薄膜克服挺度后在自身重力下弯折下垂，从而达到测量挺度的目的。

本申请的一个实现方式中，进一步的，在改进的挺度测试装置的外面设置了一个外壳，将夹具、检测平台、传感器和静电棒等全部罩住，为挺度检测提供了一个与外界隔离的环境，避免外界环境对挺度检测的影响，提高检测准确性。

附图说明

图1是本申请实施例的薄膜挺度测试装置的结构示意图；其中1为夹具、2为静电棒、3为传感器、4为检测平台、5为外壳。

具体实施方式

本申请的薄膜挺度测试装置与现有的挺度检测装置，在表征挺度的原理上是相似的，即薄膜在水平位移下，薄膜受自身重力影响自然弯折下垂到某一程度，此时的薄膜水平位移长度即表征挺度。但是，本申请的实现方式与现有的挺度检测装置不同，本申请的挺度测试装置中，增加了一个检测平台，薄膜在该检测平台的支撑下，自然的向前位移，薄膜位移到检测平台的斜面时，移出部分的薄膜不再受检测平台支撑，但是，在挺度的支持下继续保持一定的水平位移，与此同时在重力影响下，移出部分薄膜会开始慢慢向下弯曲，随着移出部分的增长，挺度无法支持薄膜保持水平，薄膜弯折下垂到斜面上，此时，薄膜在斜面上的长度即表征挺度。