[实用新型]一种外场型红外辐射计有效

专利信息
申请号: 201320373649.9 申请日: 2013-06-27
公开(公告)号: CN203376060U 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 张玉国;王加朋;李世伟;孙红胜;刘亚平;任小婉;魏建强 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01J5/52 分类号: G01J5/52;G01J5/54;G01J5/56
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地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 外场 红外 辐射计
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及光学测试技术领域,具体的讲是一种外场型红外辐射计。

背景技术

辐射测量学是研究电磁辐射能测量的科学,对于电磁辐射的不同频段,由于其特殊性,往往有不同的测量手段和方法,而对于红外波段,一般均采用辐射计进行辐射量值的测量,根据应用情况的不同,测量的量值一般包括辐射照度、辐射亮度和辐射强度。

近年来,随着红外技术的应用越来越广泛,人们对于红外辐射量值的测量日趋重视,特别是在军事领域,各类红外制导武器系统在复杂红外背景条件下的作战性能及隐身性能越来越受到军方的重视,成为这些新型武器系统需要考核的两个重要战术技术指标。

一般来说,红外目标的干扰性能和隐身性能是以其在空间的红外辐射强度来表征的。复杂红外背景环境特性对红外成像制导武器系统的作战性能带来很大的影响,比如被打击目标军舰、飞机上安装的红外干扰弹、高能致盲激光武器、复杂海天背景红外辐射、太阳的强背景辐射等。为了考核导弹红外制导系统对红外强背景信号的抗干扰性能,必须对这些复杂的红外目标的红外辐射强度进行准确的定量测量。

此外,飞航武器及其它军事目标如军舰、飞机的红外隐身能力也越来越受到重视。对这些系统的隐身能力进行考核,主要是对其发射出的红外辐射强度进行定量的测量,比如对导弹武器系统中的发动机尾喷口辐射出的红外辐射强度分布、军舰动力系统发射出的强红外辐射能量、战斗机的发动机尾喷口发射出的红外辐射强度分布等进行精确的定量测量。根据测量出的红外特性数据,进行循环改进设计,以使武器系统的隐身性能达到设计要求。

然而,目前的红外辐射计大多针对实验室应用,对于外部应用条件具有较为严格的要求,而以上这些应用的条件大多为外场环境,针对实验室应用的红外辐射计适应外场应用的能力差,脱离了实验室环境后其测量精度也无法保证。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有技术中红外辐射计测量精度低,不适用于外场环境的问题,提供了一种外场型红外辐射计可以实现高精度的红外测量,并且适用于场外多种复杂环境。

本实用新型实施例提供了一种外场型红外辐射计,包括,

包括被测红外目标,汇聚主镜,斩波器,标准参考黑体源,滤光片,中性衰减片,光谱校正片,红外探测器,信号采集部件;

所述汇聚主镜与所述斩波器相连接,所述斩波器与所述标准参考黑体源相连接,所述斩波器还与所述滤光片相连接,所述滤光片与所述中性衰减片相连接,所述中性衰减片与所述光谱校正片相连接,所述光谱校正片与所述红外探测器相连接,所述信号采集部件分别与所述红外探测器和所述斩波器相连接。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的一个进一步的方面,所述中性衰减片为多个,利用驱动机构根据不同的量程调整不同的中性衰减片位于主光路中。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的再一个进一步的方面,所述滤光片前后表面均为平面,厚度为2mm,直径为25mm,滤光片前后表面均镀增透膜。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,所述光谱校正片前后表面均为平面,厚度为2mm,直径为25mm。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,还包括复合瞄准系统,所述复合瞄准系统进一步包括激光器和成像部件,所述激光器和所述成像部件的光轴与所述汇聚主镜的光轴平行。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,所述斩波器直径为140mm,其上开有扇形孔。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,所述标准参考黑体源以具有高发射率的铜材料作为基底,其上覆有黑色钝化层,在所述黑色钝化层上具有喷砂层,所述喷砂层上还具有反射漆层。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,还具有控温部件和温度传感器,所述控温部件和所述温度传感器分别与所述标准参考黑体源相连接,所述控温部件用于对所述标准参考黑体源加热或者制冷,所述温度传感器对标准参考黑体源进行温度监测。

根据本实用新型所述一种外场型红外辐射计的另一个进一步的方面,所述信号采集部件进一步包括信号放大电路,锁相检测电路,斩波器控制电路,AD采集器,计算机,所述信号放大电路与所述红外探测器相连接,所述信号放大电路还与所述锁相检测电路相连接,所述锁相检测电路与所述斩波器控制电路相连接,所述斩波器控制电路与所述斩波器相连接,所述锁相环检测电路与所述AD采集器相连接,所述AD采集器与所述标准参考黑体源相连接,所述AD采集器与所述计算机相连接。

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