[实用新型]测量衍射或干涉光强分布的自动记录装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学实验仪器，具体涉及测量衍射或干涉光强分布的自动记录装置。

背景技术

光的衍射和干涉是常见的物理现象，其在实际生产生活中有着广泛的应用，光的衍射或干涉现象是光学研究的一项重要内容。在光的衍射或干涉实验时，通常需要测量光在发生衍射或干涉时的光强分布，通过数据处理计算出单缝的宽度和相对光强，在测量光强分布信息时，需要对分布的光强采集两次，首次采集是为了确定光强分布的大致位置及范围，再次采集需要根据首次采集确定的位置及范围进行精细采集。这一方式虽能够测量衍射或干涉的光强分布信息，但操作过程过于复杂且很难快速准确的定位光强分布的起始坐标点，给实验数据的读取带来不便，极易在实验过程中造成实验误差。

发明内容

本实用新型为解决光的衍射或干涉实验时，测量衍射或干涉光强操作过程过于复杂，且很难快速准确的定位光强分布的起始坐标点的问题，进而提出测量衍射或干涉光强分布的自动记录装置。

本实用新型为解决上述问题采取的技术方案是：本实用新型包括机身（1）和标尺（2），所述机身（1）上设置有光挡板（11），在光挡板（11）的下方设置所述标尺（2），所述标尺（2）上方为液晶显示器（21），所述标尺（2）下方设置有控制按键（22）。

本实用新型的有益效果是：光投射到机身的光挡板上之后，可根据光强分布情况，由标尺液晶显示器的控制按键设置光采集0刻度位置和终点刻度位置，在由连接于机身上的数据线传导到计算机进行处理，最终对衍射或干涉光强分布进行自动记录，利用本装置可以准确的记录极大光强强度及极小光强强度、相对位置坐标等信息，进而计算双缝干涉条纹宽度及单缝衍射的单缝宽度、相对光强等。

附图说明

图1是本实用新型的装置结构示意图。

图中各部分含义如下：1机身；2标尺；11光挡板；21液晶显示器；22控制按键。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1说明本实施方式，本实施方式所述测量衍射或干涉光强分布的自动记录装置包括机身（1）和标尺（2），所述机身（1）上设置有光挡板（11），在光挡板（11）的下方设置所述标尺（2），所述标尺（2）上方为液晶显示器（21），所述标尺（2）下方设置有控制按键（22）。

本实施方式的技术效果是：光投射到机身的光挡板上之后，可根据光强分布情况，由标尺液晶显示器的控制按键设置光采集0刻度位置和终点刻度位置，在由连接于机身上的数据线传导到计算机进行处理，最终对衍射或干涉光强分布进行自动记录，利用本装置可以准确的记录极大光强强度及极小光强强度、相对位置坐标等信息，进而计算双缝干涉条纹宽度及单缝衍射的单缝宽度、相对光强等。