[实用新型]一种50Ω微带传输线直插式器件测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及微带传输线测试夹具技术领域，尤其涉及一种50Ω微带传输线直插式器件测试夹具。

背景技术

相对于雷电电磁脉冲，静电放电电磁脉冲、超宽带等快速电磁脉冲具有更丰富的高频成分，更易通过天线或机箱上的孔/缝、电源线、设备间的连接电缆和USB等接口进入电子设备的内部，导致电子器件以及电路系统形成一种不可逆转的损害，造成瞬时干扰或永久损伤，甚至引发重大工程事故。通过对电源线路、通信线路或电子产品内部等电磁脉冲入侵路径加装电磁脉冲防护器件，可以阻止或减轻电磁脉冲对电源系统、通讯等网络系统及电子产品的冲击。电磁脉冲防护器件的过冲响应能力、通流能力、限制过电压能力等，对是否能有效的进行电磁脉冲防护起着决定性的作用。但是，由于电子设备耦合电磁脉冲方式的多样性、系统的复杂性，使得防护器件的电磁脉冲防护性能很难通过仿真计算的方法获得，因此测试是评价电磁脉冲防护器件防护性能的重要手段。

电磁脉冲保护器件面临的电磁脉冲环境，分亚纳秒级的快沿电磁脉冲和10纳秒以上的电磁脉冲。相对于比较成熟的雷电电磁脉冲防护器件测试技术而言，现在还没有关于快沿电磁脉冲保护器件防护性能检测的装置及其相关标准。亚纳秒电磁脉冲防护器件性能测试是我国电磁兼容与防护技术研究领域急需解决的关键科学问题之一，突出表现在以下两个方面：第一，快沿电磁脉冲具有纳秒或亚纳秒级的上升沿，频谱覆盖DC～GHz甚至更宽范围，峰值场强可达MV/m量级，因此，对快沿电磁脉冲防护性能测试装置的带宽、动态范围等指标要求苛刻，同时要求其能够隔离瞬态脉冲对测试系统的辐射影响；第二，快沿电磁脉冲保护器件是非线性元件，在防护性能测试中要保证传输线阻抗匹配。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种50Ω微带传输线直插式器件测试夹具，解决现有技术中测试装置带宽不足、快沿电磁脉冲产生的辐射场对测试器件的影响及传输线阻抗不匹配引起的高频反射等问题；在进行快上升沿方波传输线脉冲注入试验时，用于被试器件与注入源、示波器的连接。

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种50Ω微带传输线直插式器件测试夹具，其特征在于包括金属屏蔽盒和微带线组件，所述金属屏蔽盒包括盒盖和盒体，所述盒盖将盒体封闭，盒体的左右侧壁上分别设有一个贯穿侧壁的同轴线转接头；所述微带线组件位于所述金属屏蔽盒内，所述微带线组件包括接地片、基材、导体带、第一管脚套管和第二管脚套管，所述接地片与金属屏蔽盒形成电连接，所述基材位于所述接地片的上表面，所述导体带位于所述基材的上表面，所述第一管脚套管位于所述导体带上且与导体带电连接；所述第二管脚套管设有两个以上，所述第二管脚套管位于所述导体带两侧的基材上，第二管脚套管贯穿基材与接地片形成电连接；导体带的两端分别与金属屏蔽盒两侧的同轴线转接头的芯线形成电连接。

优选的：所述第二管脚套管对称的设置在所述导体带的两侧，一共设置有14个。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：为解决快沿电磁脉冲产生的辐射场对测被测器件和微带线的影响，研制了金属屏蔽盒，该金属屏蔽盒的顶部可拆卸，两侧各有一个用金属螺钉固定的同轴到微带线的转接头，降低了辐射场对测试器件的影响。为解决测试装置带宽不足、传输线阻抗不匹配引起的高频反射问题，本实用新型基于微带传输线设计原理，研制了适合亚纳秒快沿电磁脉冲防护器件防护性能测试的直插式器件50Ω微带传输线，减少了因传输线阻抗不匹配而引起的高频反射问题。

所述测试夹具具有如下特点：固定被测器件，同时可使接线尽量短，使由夹具引起的波形畸变小于5％；保证传输线匹配，可设计微带线的特性阻抗为50Ω；测试频带宽，在直流～1GHz频段内，其电压驻波比小于1.2；隔离瞬态脉冲的辐射，解决快沿电磁脉冲产生的辐射场对测被测器件、微带线的影响；避免因焊接的热效应对器件的不利影响。此外，所述测试夹具的结构简单，体积小，制作方便，成本低，具有较好的推广和使用前景。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型中金属屏蔽盒的剖视结构示意图；

图2是本实用新型中微带线组件的结构示意图；

其中：1、金属屏蔽盒 2、盒体 3、盒盖 4、同轴线转接头 5、接地片 6、基材 7、导体带 8、第一管脚套管 9、被测器件 10、第二管脚套管。

具体实施方式