[实用新型]三维显微光切法表面粗糙度测量仪有效
| 申请号： | 201320319254.0 | 申请日： | 2013-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN203337113U | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 卢荣胜 | 申请（专利权）人： | 合肥米克光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 三维 显微 光切法 表面 粗糙 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种三维显微光切法表面粗糙度测量仪，其特征在于：包括有可升降载物台，在可升降载物台上放有待测工件，在待测工件的正上方固定有显微成像系统，所述的显微成像系统从上到下依次包括有工业CCD相机、镜筒透镜和无限远校正显微镜，在待测工件的斜上方转动的安装有半导体激光器。
2.根据权利要求1所述的三维显微光切法表面粗糙度测量仪，其特征在于：所述的半导体激光器安装在角度和位置可调的安装座上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥米克光电技术有限公司，未经合肥米克光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320319254.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
