[实用新型]一种测定密封圈摩擦磨损的试验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测定密封圈摩擦磨损的试验装置。 

背景技术

密封技术的可靠性和稳定性已成为现代流程工业设备安全、稳定运行的关键因素。根据密封偶合面间有无相对运动，可将密封分为静密封和动密封两种；而按密封件在密封装置中所起的作用，又有主要密封和辅助密封之分。但无论作为主要密封还是辅助密封，动密封除了要承受介质压力外，还必须耐受相对运动引起的摩擦、磨损，以保证一定的密封性能和满足运动性能的各项要求。例如，作为主要密封的液压、气动缸中的活塞与缸筒之间的密封、活塞杆与缸盖以及滑阀的阀芯与阀体之间的密封以及机械密封中作为辅助密封的密封圈，这些密封元件常因摩擦导致接触表面过度磨损并成为密封失效的主要原因。 

机械密封中具有轴向补偿能力的密封环与相关零件之间的辅助密封是密封系统中除端面密封副（即主密封）外最重要的部件。随着主密封性能的不断提高，作为辅助密封重要元件的密封圈接触界面摩擦磨损失效问题日益突显，并直接影响密封环的追随性和浮动性。目前，它已成为制约现代机械密封向高可靠性、长寿命方向发展的重要因素。 

摩擦磨损性能是评价密封材料综合性能的一项重要指标，摩擦磨损性能与摩擦副的材料性能、接触状态、界面特性、润滑条件和环境 因素等密切相关。然而，目前绝大部分研究都是利用有限元模拟计算或平面线接触考察密封圈的摩擦磨损性能，这些方法具有一定的局限性。如何准确地开展密封圈摩擦磨损的试验研究，在更加切合实际服役工况下系统深入地研究各种因素与密封圈磨损特性的内在联系，是揭示密封圈摩擦学损伤机理、控制或减缓有害磨损的关键。但目前从摩擦学试验角度研究密封圈摩擦磨损性能的工作较少，这主要归因于现有标准型摩擦学试验设备无法真实模拟密封圈的真实工况下的摩擦磨损性能及缺乏一种能合理评价密封圈摩擦磨损的试验设备。 

发明内容

为了解决现有标准型摩擦学试验设备无法真实模拟密封圈的真实工况下的摩擦磨损的问题，本实用新型提出了一种能真实模拟密封圈的真实工况、并在试验过程中同步动态采集摩擦力、可较准确地分析密封圈摩擦界面损伤演变特性及影响规律的测定密封圈摩擦磨损的试验装置。 

本实用新型所述的一种测定密封圈摩擦磨损的试验装置，其特征在于：包括机座、介质槽、上夹具、下夹具、温度控制台、水平往复运动装置、二维可调移动台和数据采集控制系统，所述的二维可调移动台固定在所述的机座的上部，并且所述的二维可调移动台下部安装二维力学传感器；所述的二维力学传感器上固定夹持上试件的上夹具；所述的介质槽安装在所述的水平往复运动装置上方，并且所述的介质槽内固定夹持下试件的下夹具，所述的介质槽内填充试验介质；所述的水平往复运动装置固定在所述的机座上；所述的二维可调移动 台、所述的水平往复运动装置、所述的温度控制台均与所述的数据采集控制系统电连接。 

所述的上夹具包括上夹具座、夹紧盖和调节螺栓，所述的上夹具座和夹紧盖通过所述的调节螺栓相互固定组成的下端面为等直径半圆柱形，所述的上夹具座在半圆柱形端面设有台阶结构，与所述的夹紧盖配合形成与作为上试件的密封圈匹配的弧形容纳槽；所述的下试件沿轴向开有与上试件匹配的贯通半圆柱形凹槽。 

所述的二维可调移动台包括垂直滑块、垂直导轨、垂直丝杠、垂直电机、水平电机、水平滑块、水平丝杠和水平导轨，所述的垂直电机和所述的水平电机均固定在所述的机座的上方，且所述的垂直电机与所述的水平电机与所述的数据采集控制系统电连接；所述的垂直电机的输出端连接垂直丝杠的上端，所述的垂直丝杠的下端与所述的垂直滑块螺接；所述的垂直滑块的后部设置与所述的垂直导轨配合的导槽；所述的水平导轨固定在所述的机座上；所述的水平电机的输出轴与所述的水平丝杠的一端连接，所述的水平丝杠的另一端与所述的水平滑块螺接，所述的水平滑块的上部设置的导槽与固定在垂直滑块上的水平导轨配合。 

所述的水平往复运动装置包括驱动电机、曲柄连杆机构、滑块和侧面水平滑轨，所述的驱动电机竖直安装在机座底部，所述的驱动电机通过曲柄连杆机构与所述的滑块连接；上述的下夹具通过所述的介质槽固定在所述的滑块上；所述的滑块两侧与固定在机座上的侧面水平滑轨配合。 

所述的温度控制台内置发热单元和温度传感器，发热电源、所述的温度传感器分别与数据采集控制系统电连接，所述的温度控制台固定在上述的滑块上。 

所述的弧形容纳槽的横截面形状呈矩形、槽深与待测的上试件的尺寸确定且小于上试件的线径。 

所述的下夹具置于所述的介质槽内并穿过温度控制台的中心通孔固定在所述的水平往复运动装置上。