[实用新型]测量装置

权利要求书

1.一种测量装置，应用于测量一物体的尺寸，其特征在于：所述测量装置包含：

一光源单元，用以提供光线以照射所述物体；

一反光板，所述物体是放置于所述光源单元及所述反光板之间，所述反光板用于反射穿透所述物体的光线；

一感测单元，用以接收由所述反光板反射的所述光线，并通过所感测到的所述光线的光强度输出感测信号；以及

一处理单元，用以接收所述感测信号，以及处理所述感测信号，并根据处理后的感测信号产生所述物体的尺寸数据。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述处理单元包含一比较电路，用以将所述感测信号转换为一序列信号，使得所述光线依照不同光线强度分别转换为相对逻辑高电位及/或相对逻辑低电位。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述比较电路包含一比较器、一可变电阻单元及一微处理单元，所述可变电阻单元具有一参考电压，所述比较器是用以比较所述感测信号及所述参考电压后输出所述序列信号。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于：当所述感测信号高于所述参考电压时，所述序列信号为相对逻辑高电位；以及当所述感测信号低于所述参考电压时，所述序列信号为相对逻辑低电位，而所述微处理单元是依据相对逻辑高电位及/或相对逻辑低电位来产生所述物体的尺寸数据。

5.一种测量装置，应用于测量一物体的尺寸，其特征在于：所述测量装置包含：

一光源单元，用以提供光线以照射所述物体；

一感测单元，用以接收穿透所述物体的所述光线，并通过所感测到的所述光线的光强度输出感测信号；以及

一处理单元，用以接收所述感测信号，以及处理所述感测信号，并根据处理后的感测信号产生所述物体的尺寸数据。

6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于：所述处理单元包含一比较电路，用以将所述感测信号转换为一序列信号，使得所述光线依照不同光线强度分别转换为相对逻辑高电位及/或相对逻辑低电位。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于：所述比较电路包含一比较器、一可变电阻单元及一微处理单元，所述可变电阻单元具有一参考电压，所述比较器是用以比较所述感测信号及所述参考电压后输出所述序列信号。

8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于：当所述感测信号高于所述参考电压时，所述序列信号为相对逻辑高电位；当所述感测信号低于所述参考电压时，所述序列信号为相对逻辑低电位，而所述微处理单元是依据相对逻辑高电位及/或相对逻辑低电位来产生所述物体的尺寸数据。