[实用新型]读数显微镜测量台有效
| 申请号： | 201320299662.4 | 申请日： | 2013-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN203310711U | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 张磊 | 申请（专利权）人： | 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/40 | 分类号： | G01N3/40 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 谭昌驰;王秀君 |
| 地址： | 617000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 读数 显微镜 测量 | ||
【权利要求书】：
1.一种读数显微镜测量台，其特征在于，所述读数显微镜测量台包括支架、悬臂机构、悬臂支撑件和用于放置试样的底座，其中，
所述支架垂直安装在底座上；
所述悬臂机构包括垂直于所述支架高度方向设置的悬臂以及悬臂紧固件，所述悬臂包括分别设置在其两端的长条形槽和能够使所述支架穿过的第一通孔，读数显微镜放置在所述长条形槽中并能够沿长条形槽的长度方向移动，所述悬臂紧固件用于将悬臂与所述支架紧固连接；
所述悬臂支撑件包括设置在所述悬臂下方的滑块和滑块紧固件，所述滑块具有能够使所述支架穿过的第二通孔，所述滑块紧固件将滑块与所述支架紧固连接。
2.根据权利要求1所述的读数显微镜测量台，其特征在与，所述滑块紧固件和/或所述悬臂紧固件为螺栓。
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