[实用新型]用于光分路器的耦合监控装置有效

专利信息
申请号: 201320285639.X 申请日: 2013-05-23
公开(公告)号: CN203241569U 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 陈磊 申请(专利权)人: 苏州新大诚科技发展股份有限公司
主分类号: G02B6/28 分类号: G02B6/28
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 顾伯兴
地址: 215021 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 分路 耦合 监控 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及移动通讯技术领域,特别是涉及一种用于光分路器的耦合监控装置。 

背景技术

现有技术中,平面波导型光分路器主要特性是将输入光进行平均分配,起到平均分光的作用。分光的功能主要在波导芯片上完成,而输入和输出端光纤为了能够匹配芯片的波导,所以将光纤做成了光纤阵列(FA)。输入端为一路或两路的光纤阵列,而输出端路数较多,可以是8芯、16芯、32芯或64芯。 

光的传输需要介质,在平面波导型光分路器中光是在光纤与芯片的光波导中传输的,所以我们需要将光纤与芯片的波导对准、粘接,完成光的传输路径。我们将上述对准、粘接工序称为耦合。在耦合工艺中,因为芯片内波导和光纤阵列内光纤都非常微小,将光纤阵列与芯片的传输通道对准是非常困难的,如果依靠肉眼将光纤与芯片波导对准,精度远远达不到要求,会造成产品成品率极低,所以需要有一套耦合监控装置进行优化对准。 

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种用于光分路器的耦合监控装置,能够达到耦合实时监控,提高产品的成品率。 

为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种用于光分路器的耦合监控装置,包括:集成光源、芯片、一单芯光纤阵列和多芯光纤阵列,所述集成光源连接单芯光纤阵列,所述单芯光纤阵列和多芯光纤阵列之间放置芯片,所述多芯光纤阵列的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器。 

在本实用新型一个较佳实施例中,所述单芯光纤阵列、多芯光纤阵列和芯片之间的排列处于同一水平线上。 

本实用新型的有益效果是:本实用新型操作起来简单方便,提高了光纤与芯片的对准精度,从而提高了产品的成品率,达到了耦合实时监控的目的。 

附图说明

图1是本实用新型用于光分路器的耦合监控装置结构示意图。 

附图中各部件的标记如下:1、集成光源;2、芯片;3、单芯光纤阵列;4、多芯光纤阵列;5、光学测量仪器。 

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述,以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。 

请参阅图1,本实用新型实施例包括:一种用于光分路器的耦合监控装置,包括:集成光源1、芯片2、一单芯光纤阵列3和多芯光纤阵列4,集成光源1连接单芯光纤阵列3,单芯光纤阵列3和多芯光纤阵列4之间放置芯片2,多芯光纤阵列4的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器5。 

进一步说,所述单芯光纤阵列3、多芯光纤阵列4和芯片2之间的排列处于同一水平线上。 

本实用新型用于光分路器的耦合监控装置在使用过程中,由集成光源1向单芯光纤阵列3内输入光源,光源依次对准单芯光纤阵列3、芯片2、多芯光纤阵列4;因多芯光纤阵列4输出端通道较多,所以不可能做到对多芯光纤阵列4一一监控,由于多芯光纤阵列4和芯片2上的每个通道的间距是一致的,因此我们只需对多芯光纤阵列4最边上两路输出光纤采用光学测量仪器5进行监控,当最边上两个通道处于最佳耦合状态的时候,那么其它通道也就处于最佳耦合状态。 

以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

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