[实用新型]用于光分路器的对准耦合监测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子通讯技术领域，特别是涉及一种用于光分路器的对准耦合监测装置。

背景技术

现有技术中，分光的功能主要在波导芯片上完成，而输入和输出端光纤为了能够匹配芯片的波导，所以将光纤做成了光纤阵列（FA）。其输入端为一路或两路的光纤阵列，而输出端路数较多，可以是8芯、16芯、32芯或64芯。对光纤阵列进行分光检测时，首先要进行单芯光纤阵列与芯片的对准耦合检测，然后在进行芯片与多芯光纤阵列的对准耦合检测。

上述两步的操作需要在不同的检测仪器上进行，效率低，同时会造成产品成品率极低，而在对准耦合中，因为芯片内波导和光纤阵列内光纤都非常微小，将光纤阵列与芯片的传输通道对准是非常困难的，而且对准后的检测也非常的重要，如果依靠肉眼将光纤与芯片波导对准，精度远远达不到要求，对于可见光例如红光可以用肉眼观测到，但是对于不可见光，需要借助专业仪器。所以需要有一套耦合监控装置对单芯光纤阵列、芯片和多芯光纤阵列在同一工作平台进行优化对准的装置。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种用于光分路器的对准耦合监测装置，能够提高光纤与芯片对准效率，且操作方便，用于广泛。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种用于光分路器的对准耦合监测装置，包括：集成光源、芯片、一单芯光纤阵列、多芯光纤阵列和监视器，所述芯片与监视器之间设置有一反射镜，所述集成光源通过单芯光纤阵列和芯片经反射镜90度反射至监视器，所述监视器的输出端连接一显示器，所述反射镜的下方设置有一移动承载板；所述集成光源连接单芯光纤阵列，所述单芯光纤阵列和多芯光纤阵列之间放置芯片，所述多芯光纤阵列的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器。

在本实用新型一个较佳实施例中，为方便光源的对准切换，所述单芯光纤阵列、芯片、多芯光纤阵列和反射镜之间的排列处于同一水平线上。

在本实用新型一个较佳实施例中，为了使集成光源对准信号清晰显示，所述显示器接收由单芯光纤阵列与芯片对准后的集成光源会呈现出多个显示光点，所述多个显示光点呈一字型排列。

本实用新型的有益效果是：本实用新型采用监视器和反射镜相结合对准检测单芯光纤阵列，简单、快捷；单芯光纤阵列的快速对准，为多芯光纤阵列对准提供了一个前提，使多芯光纤阵列对准变得更加快捷方便，降低了多芯光纤阵列与芯片对准的难度，而集成光源的引入也解决了耦合工艺中的难题，大大提高了生产效率，应用范围广，可用于可见光或是不可见光源。

附图说明

图1是本实用新型用于光分路器的对准耦合监测装置结构示意图。

附图中各部件的标记如下：1、集成光源；2、芯片；3、单芯光纤阵列；4、多芯光纤阵列；5、监视器；6、反射镜；7、显示器；8、移动承载板；40、光学测量仪器；70、显示光点。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参阅图1，本实用新型实施例包括：一种用于光分路器的对准耦合监测装置，包括：集成光源1、芯片2、一单芯光纤阵列3、多芯光纤阵列4和监视器5，芯片2与监视器5之间设置有一反射镜6，集成光源1通过单芯光纤阵列3和芯片2经反射镜90度反射至监视器5，监视器5的输出端连接一显示器7；反射镜6的下方设置有一移动承载板8；集成光源1连接单芯光纤阵列3，单芯光纤阵列3和多芯光纤阵列4之间放置芯片2，多芯光纤阵列4的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器40。

进一步说，所述单芯光纤阵列3、芯片2、多芯光纤阵列4和反射镜6之间的排列处于同一水平线上；显示器7接收由单芯光纤阵列3与芯片2对准后的集成光源1会呈现出多个显示光点70，多个显示光点70呈一字型排列。