[实用新型]一种LED电性能测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED电性能测试技术，特别是涉及一种LED电性能测试仪。

背景技术

LED的电性能测试主要是测试LED的正常工作时的导通压降，导通电流，反向漏电流等参数。目前主流的LED测试仪是综合的测试仪，包括电性能和光性能。体积大，价格昂贵，只适合于生产LED的厂家使用，对于使用LED的用户来说，很多功能对于用户来讲不必要，只需要简单的电性能测试即可。而且现有的仪器测量接口少，有的产品不能同时测量16颗LED, ，对于大量的LED测试不方便快速。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种LED电性能测试仪，能同时测试多个LED的电性能，操作简单方便，效率高。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是，一种LED电性能测试仪，包括依次相互连接的CPU控制单元、信号源电路、测量电路、输入输出分配电路及测试接口；

CPU控制单元与信号源电路双向连接，信号源电路的输出端连接输入输出分配电路的输入端，输入输出分配电路与测试接口双向连接，输入输出分配电路的输出端与测量电路的输入端连接，测量电路与CPU控制单元双向连接。

较佳的，所述的信号源电路与输入输出分配单元之间设置一信号源选择电路。

所述的信号源电路包括恒压源电路及恒流源电路。

所述的恒压源电路包括依次相互连接的DAC转换器、运放电路一、功率三极管、运放电路二及ADC转换器；DAC转换器的输入端连接CPU控制单元的输出端，ADC转换器的输出端连接CPU控制单元的输入端，运放电路一与功率三极管双向连接；功率三极管的输出端连接信号源选择电路的输入端。

所述的恒流源电路包括依次相互连接的DAC转换器、运放电路三、功率三极管、运放电路四及ADC转换器；DAC转换器的输入端连接CPU控制单元的输出端，ADC转换器的输出端连接CPU控制单元的输入端，运放电路三与功率三极管双向连接；功率三极管的输出端连接信号源选择电路的输入端。

所述的测量电路包括乘法DAC电路、运放电路五、运放电路六、ADC转换器及采样电路；乘法DAC电路的输入端连接CPU控制单元的输出端，乘法DAC电路与运放电路五双向连接，运放电路五与运放电路六双向连接，运放电路六的输出端连接ADC转换器，ADC转换器的输出端连接CPU控制单元，运放电路五的输入端连接采样电路的输出端，采样电路的输入端连接输入输出分配电路。

所述的采样电路由N个并联的采样电阻组成，N为大于零的自然数。

所述的输入输出分配单元由继电器阵列和选择器组成，一对继电器和选择器设置一个连接端口。

所述的两个连接端口之间连接一被测LED。

所述的LED包括单向LED和双向LED。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过设置多个连接端口实现多个LED同时测试；通过设置测试单向LED和双向LED实现多种测试模式，同时通过设置DAC、ADC转换器及运放电路的精密度实现高精度测量，节约了测量成本，提高了测试效率；在测量时，不但能测量单向LED，而且能测量双向LED，及固定极性和不分极测试等模式。

附图说明

 图1为本实用新型的测试仪原理框图；

    图2为本实用新型的测试仪具体结构示意图；

图3为本实用新型的测试原理示意图；

图4为本实用新型的测试工作信号流程图。

具体实施方式

下面结合实施例参照附图进行详细说明，以便对本实用新型的技术特征及优点进行更深入的诠释。

如图1、2所示，一种LED电性能测试仪，包括依次相互连接的CPU（英文Central Processing Unit的缩写，中央处理器）控制单元、信号源电路、测量电路、输入输出分配电路及测试接口；

CPU控制单元与信号源电路双向连接，信号源电路的输出端连接输入输出分配电路的输入端，输入输出分配电路与测试接口双向连接，输入输出分配电路的输出端与测量电路的输入端连接，测量电路与CPU控制单元双向连接。

较佳的，所述的信号源电路与输入输出分配单元之间设置一信号源选择电路。

所述的信号源电路包括恒压源电路及恒流源电路。