[实用新型]具弧状接触棱线的测试探针

说明书

技术领域

本实用新型系关于一种具弧状接触棱线的测试探针，尤指一种测试探针的检测端，含有多个探爪，且各该探爪分别形成有一接触棱线，且令各该接触棱线系成一弧形曲线，以增加与被检测物的锡球接触面积。

背景技术

目前所生产的中央处理器、积体电路…等电子装置，通常以多个锡球构成其电性连接面，当制作完成后，必需藉由探针检测各锡球，以确定电子装置的各项功能是否正常，而为品质管制的重要项目之一。

习知应用于检测电子装置锡球电性特性的探针，其检测端有呈锥状，在检测时，以其前端抵压于对应锡球上，以达电性连接，进而获取电性特性；惟此一方式，由于锥状的探针头，在接触锡球时，以单点方式接触，电性连接特性极不稳定，常因接触不良等因素，而造成检测值不准确的缺点。

缘此，如中国台湾新型专利申请案第M429101及M427570号，即分别揭示一种呈多爪型式的探针，各爪呈尖锐的锥状，在检测时，以各爪的尖点抵靠于检测点的锡球上，而呈多点接触，以改善前项所述习知探针以单点接触的缺点，藉由多点接触增加测试时电性连接的稳定性。

然而，虽然该第M429101及M427570号两习知前案，在检测时，可以达到多点接触的目的，但由于探针的直径极细，可形成的探针爪数量有限，最多为4～5爪，亦言之，其与受测锡球的接触点，最多为4～5点的接触，但通常会少于4～5个接触点，这样少量的接触点，还是会有电性连接不稳定缺点。另外由于检测的接触方式，是呈点接触，且各检测点的间距极为趋近，因此在各相邻检测接触点间，极易产生电磁干扰，而影响检测的精准度，而有改进的必要。

本实用新型创作人有鉴于此，乃加予研究创新，揭示出本实用新型所示具弧状接触棱线的测试探针。

实用新型内容

本实用新型的目的在于,提供一种具弧状接触棱线的测试探针，其结构简单，藉由呈弧状的接触棱线，吻合地接触一检测物呈圆弧曲面的锡球表面，以增加接触面积，提升检测的准确度。

为实现上述目的，本实用新型公开了一种具弧状接触棱线的测试探针，其特征在于：该测试探针含有一杆体，于该杆体的第一端形成一检测端，该检测端含有多个探爪，各探爪分别形成一接触棱线，各接触棱线成一接触一检测物呈圆弧曲面的锡球表面的弧形线。

其中，各接触棱线为由该测试探针的圆周至轴心的弧形内凹曲线。

其中，该测试探针滑套于一套筒中，并于该套筒内顶撑有弹性地抵压于检测物的对应锡球上的第一弹簧，该套筒穿套于检测治具的套穴中，另于该测试探针的外缘突设有突缘部，该突缘部与该检测治具的套穴间顶撑有第二弹簧。

通过上述结构，本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，其与检测物的锡球表面呈线接触，因此不会产生电极集中在尖点的效应，因此可以降低干扰，使检测更为精准，而显本实用新型的新颖性及具产业利用性。

本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，其所形成的探爪数目，本实用新型并不予自限。

本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，在制造上，可以令两个或两个以上，切削长度大于该测试探针直径的切削圆柱（可由切削刀具旋转所构成），呈交错状分别切削该测试探针的检测端，以在该检测端形成多个具有弧状接触棱线的探爪。如，令两切削圆柱的交错点，通过位于该测试探针的圆周同一点上，使所形成的接触棱线，呈现由该测试探针的圆周至轴心的弧形内凹曲线者；惟本实用新型并不自限其制造方法。

本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，滑套于一套筒中，并于该套筒内顶撑有第一弹簧，使该第一弹簧可以弹性地抵压于检测物的对应锡球上，于应用时，该套筒穿套于检测治具的套穴中；本实用新型所揭示的测试探针，进一步于其外缘，突设有突缘部，令该突缘部与该检测治具的套穴间，顶撑有第二弹簧，使该测试探针受第一弹簧及第二弹簧的弹性顶撑，弹性地抵靠在检测物的对应锡球表面上，以确保电性连接的稳定，使检测的电性数据可更为精准。

本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，由于该测试探针是由各该探爪呈弧形曲线的接触棱线与所检测的检测物的锡球呈线接触，吻合地接触，因此本实用新型的测试探针与所测的锡球表面，是呈多道线接触，较习知以点接触者，增加其接触面积，以确保良好的电性连接特性，使检测所得结果可以更为精准。

另外，由于本实用新型所揭示具弧状接触棱线的测试探针，其与检测物的锡球表面系呈线接触，因此不会产生电极集中在尖点的效应，因此可以降低干扰，使检测更为精准，而显本实用新型的新颖性并具产业利用性。

本实用新型的可取实体，可由以下的图式及所附的实施方式，而得以明晰之。

附图说明