[实用新型]一种玻璃基板检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及机械领域，具体涉及一种玻璃基板检测装置。

背景技术

玻璃基板在生产线上传送的过程中易发生破裂，目前已知的玻璃基板破损检测技术仅支持玻璃基板边缘检测，主要有以下两种：

1、图像分析型：在玻璃基板传送过程中，对玻璃基板进行连续拍照，拍照之后进行图像分析，可以判断玻璃基板边缘是否有缺陷。

2、光纤传感器检测型：在设备两侧各安装一个反射型光纤传感器，在玻璃基板的传送过程中，接收从玻璃基板发射的光，据此检测出玻璃基板中两条直线上是否有缺陷。

上述玻璃基板破损检测技术存在以下问题：

1、当玻璃基板洁净度较低时，图像分析型玻璃基板破损检测技术易发生误检；

2、光纤传感器检测型玻璃基板破损检测技术的检测方式为线检测，检测范围有限，无法对玻璃基板进行全面检测。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种玻璃基板检测装置，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种玻璃基板检测装置，该装置包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器；其中，

所述光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置，用于在发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线；

所述光学判决器件用于根据所述光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。

所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度或宽度相同，或者介于玻璃基板的长度与宽度之间，或者小于玻璃基板的宽度。

当所述光传感器的发光域与玻璃基板的宽度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的短边相平行的方向上；通过在玻璃基板的长度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。

当所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的长边相平行的方向上；通过在玻璃基板的宽度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。

所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端合设或分设；所述光传感器的发射端和接收端分设时，均位于玻璃基板的一侧。

在玻璃基板的另一侧还设置有反光镜，用于反射穿过玻璃基板并照射到反光镜上的光。

所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端分设在玻璃基板的两侧。

所述装置设置于涉及玻璃基板处理的设备的任何位置。

所述光学判决器件为可编程逻辑控制器。

所述光传感器为激光传感器。

本实用新型利用区域型传感器等光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。

附图说明

图1为本实用新型实施例一的玻璃基板检测原理示意图；

图2为本实用新型实施例二的玻璃基板检测原理示意图；

图3为本实用新型实施例三的玻璃基板检测原理示意图；

附图标记说明：

1、可编程逻辑控制器(PLC)；2、光传感器；3、连接线；4、玻璃基板；5、反光镜；6、光传感器发射端；7、光传感器接收端。

具体实施方式

总体而言，可以利用区域型传感器等光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。

所述区域型传感器可以是数字光电传感器等具有线光源的传感器。所述线光源可以发出激光或普通光线等，具体可以是红外线、紫外线等。由于紫外线对玻璃基板的透过率较低，因此应用紫外线对玻璃基板进行缺损检测的准确度相对高一些。

本实用新型的实施例提供一种玻璃基板检测装置，该装置包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器。

在实际应用中，将光学判决器件与具有线光源的光传感器相连，并将光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置。光传感器发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线，光学判决器件则根据光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测，如：根据接收到的所述光线的光量值大小完成玻璃基板的缺损检测。