[实用新型]IC卡字符的凸印起伏高度测试仪

说明书

技术领域：

本实用新型涉及一种高度测试专用装置，特别涉及一种IC卡字符的凸印起伏高度测试仪，用于集成电路卡字符的凸起高度的测试，该装置是在对字符施加一个恒力的状态下进行测试。 

背景技术：

在ISO/IEC 10373-1标准中定义了字符凸印的起伏高度的检测方法并在ISO/IEC7811-1标准中定义了字符高度要求。 

目前，公知的测试高度的装置如杠杆千分尺、微米千分尺等由于无法调整到在测试时施加在IC卡字符上的力为3.5N～5.9N。再如现有测厚仪，虽能调节施加的力值，但其分辨力无法达到0.001mm而不能拿来作为测试IC卡字符高度的装置。 

实用新型内容：

针对现有技术不足，为实现上述目的，一种IC卡字符的凸印起伏高度测试仪，包括千分表、固定环、支架、滑动杆、配重、测杆、平滑砧。 

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：装置支架设有三层托架结构，支架设计成反“E”字型，托架端部设为“U”型槽，“U”型槽设中有套圈，套圈卡在“U”型槽里；数显千分表的滑动杆下端穿过套圈，用内六角螺母和螺栓固定在上层托架里，数显千分表的滑动杆与配重设置在同一重力轴线上，配重安置在中层托架和下层托架之间，配重的上、下端连接杆分别卡在中层托架和下层托架的套圈中，配重的重力为3.0N，数显千分尺测杆自身的接触力为0.5N～2.9N，测试力达到3.5N～5.9N。配重下端连接杆为测试字符相接触的测 杆；底座上设置载物台，载物台上设有平滑砧，平滑砧与测杆对应设置。 

所述测杆为3mm至8mm范围内的锥形轴。 

本实用新型有益效果：直接显示出字符高度，具有使用方便，维护简单等优点。 

附图说明：

图1为本实用新型的原理结构示意图； 

图中，1、数显千分表，2、固定环，3、支架，4、滑动杆，5、配重，6、测杆，7、平滑砧。 

具体实施方式：

如附图所示，本实用新型包括数显千分表1、固定环2、支架3、滑动杆4、配重5、测杆6、平滑砧7。装置支架3设有三层托架结构，支架3设计成反“E”字型，托架端部设为“U”型槽，“U”型槽设中有套圈，数显千分表1滑动杆穿过套圈卡在“U”型槽里，用内六角螺母和螺栓固定在上层托架里，数显千分表1的滑动杆与配重5设置在同一重力轴线上，配重5上、下端连接杆穿过套圈，配重5上、下端连接杆分别卡在中层托架和下层托架的U型槽中，配重5的重力为3.0N，数显千分尺测杆自身的接触力为0.5N～2.9N，测试恒力达到3.5N～5.9N，测试恒力是配重力和测杆力之和。配重5下端连接杆为测试字符相接触的测杆6，测杆6是3mm至8mm范围内的锥形轴，测杆6的测量面为硬质合金，被测物即IC卡放置在测杆6和载物台中间来进行测试，载物台上设有平滑砧7，平滑砧7与测杆6对应设置，平滑砧7用于支撑IC卡与测杆进行配合测试，载物台固定在底座上。