[实用新型]一种厚膜电阻阵列检测仪

说明书

技术领域

本实用新型提供了一种厚膜电阻阵列检测仪，特别涉及到一种一次能测量多个厚膜电阻阵列的检测仪。

背景技术

厚膜电阻是采用厚膜工艺印刷而成的电阻，厚膜工艺是把专用的集成电路芯片与相关电容、电阻等元件都集成在一个基板上，在其外部采用统一的封装形式，做成一个模块化的单元。厚膜电阻广泛应用在小家电和各类工业类加热设备中，广泛应用在冶金、化工、药品食品加工、种植养殖保温等领域。厚膜电阻采用厚膜工艺制作的电路比独立焊接的电路有更强的外部环境适应性能，但同时也给电子元器件性能的检测也带来麻烦。

现有技术中对厚膜电阻检测主要有两种方法：一是用普通万用表电阻档检测，需要测试员人工一个个检测，不仅效率很低，而且测试数据的可靠性也得不到保证；二是用计算机配套智能设备组成测试系统进行测试，虽然此方法能自动测试，数据也较为准确，但是系统复杂，价格也相对高昂。综上所述，如何提供一种高效而又精确的厚膜电阻测试仪，并且生产维护费用较低，成为亟待解决的问题。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种厚膜电阻阵列检测仪，以达到提供一种检测效率高、数据精确的厚膜电阻检测仪的目的。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种厚膜电阻阵列检测仪，包括中央控制模块、A/D转换电路、液晶屏显示电路、声光指示电路、电源电路、振荡电路，还包括蜂鸣器、LED指示灯及液晶显示屏；所述中央控制模块输入端一侧连接到所述A/D转换电路、所述电源电路和所述振荡电路；所述中央控制模块输出端一侧与所述声光指示电路和所述液晶屏显示电路连接；所述A/D转换电路输入端与待测厚膜电阻连接。

进一步的，所述中央控制模块为EM78P447S型单片机。

进一步的，所述A/D转换电路为TLC1543多通道10位开关电容逐次逼近型A/D转换芯片，所述A/D转换芯片通道数可调。

进一步的，所述液晶屏显示模块为5英寸320×240液晶显示屏。

通过上述技术方案，本实用新型提供的一种厚膜电阻阵列检测仪，厚膜电阻测量采用分压法，即将待测电阻与基准电阻分压后，测量待测电阻上的电压值，经过A/D转换，再通过单片机运算得到待测电阻的电阻值，并判断阻值是否合格，然后将结果通过液晶屏显示出来，因此，本实用新型可以有效提高检测精度和效率，降低测试员工作量。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为本实用新型一种厚膜电阻阵列检测仪的原理结构图；

图2为本实用新型一种厚膜电阻阵列检测仪用于厚膜电阻阵列测试的测试流程框图。

具体实施方式

下面将结合图1及图2，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

本实用新型提供了一种厚膜电阻阵列检测仪，参考图1，包括中央控制模块、A/D转换电路、液晶屏显示控制电路、声光指示电路、电源电路、振荡电路，还包括蜂鸣器、LED指示灯及液晶显示屏；中央控制模块为EM78P447S型单片机，其输入端一侧连接到A/D转换电路、电源电路和所述振荡电路，输出端一侧与声光指示电路、所述液晶屏显示电路连接；A/D转换电路输入端与待测厚膜电阻连接，其中A/D转换电路为TLC1543多通道10位开关电容逐次逼近型A/D转换芯片。

参考图2，本实用新型实施例提供了一种A/D转换通道数为11的厚膜电阻阵列检测仪用于测试厚膜电阻阵列时的测试流程。将待测电阻阵列接入检测仪，手动按下“开始测试”按钮，仪器即自动开始测试，单片机及液晶屏幕显示初始化，采用分压法，将待测电阻与基准电阻分压后，测量待测电阻上的电压值，将A/D转换模块置于0通道，转换经过A/D转换后再通过主控单片机EM78P447S的计算，得到的电阻值在液晶显示屏上显示，与此同时，将所得到的电阻值与设定目标值进行比较，显示误差，该厚膜电阻测量完成后，将A/D通道转换置于1通道，测定下一个厚膜电阻，如此循环这个测量过程，直至厚膜电阻阵列全部测量完成。本实施例中所列举的是A/D转换通道数为11的厚膜电阻阵列检测仪，一次性可最多测量11个厚膜电阻。针对本实用新型提供的一种厚膜电阻阵列检测仪，被测电阻的量程固定，可以做以下改进：一是增加A/D模数转换电路通道数，以便一次能测量更多的电阻；二是增加自动量程功能，并对软件进行升级，使本实用新型能得到更广泛的应用。

以上对本实用新型提供的一种厚膜电阻阵列检测仪进行了介绍。对上述实施方式的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，上述实施方式说明只是用于帮助理解本实用新型的一般原理，一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。