[实用新型]外观检查的校正用夹具有效

专利信息
申请号: 201320184744.4 申请日: 2013-04-12
公开(公告)号: CN203231979U 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 伊藤克彦;永井大介;木下丰;益宪司;中村光男 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张劲松
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 外观 检查 校正 夹具
【权利要求书】:

1.一种外观检查的校正用夹具,其在配置于在基板上安装电子零件而制造安装基板的电子零件安装线,且基于由拍摄装置对所述基板进行拍摄而取得的图像信息进行检查对象物的外观检查的外观检查装置中,用于对与所述外观检查的检查项目对应地从所述图像信息中抽取的多个测量值进行校正而使用,其特征在于,该外观检查的校正用夹具具备:

单独校正块,其用于分别单独地对所述多个测量值进行校正而设置;

夹具托架,其拆装自如地保持有所述多个单独校正块,可由所述外观检查装置的基板输送机构来输送。

2.如权利要求1所述的外观检查的校正用夹具,其特征在于,

所述拍摄装置是取得三维图像信息的三维拍摄装置,

所述多个测量值包括表示来自所述检查对象物的检查对象位置的反射光入射到所述三维拍摄装置的光量的亮度信息、表示所述检查对象物的检查对象位置的水平方向及高度方向的位置的三维位置信息,

所述多个单独校正块包括:

亮度校正块,为了校正所述亮度信息,将上面的光反射特性设定为规定的特性;

水平位置校正块,为了校正所述水平方向的位置信息,以规定的位置精度形成有至少一个基准点及至少两个方向的基准线;

高度位置校正块,为了校正所述高度方向的位置信息,以规定的位置精度形成有多个高度基准面。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320184744.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top