[实用新型]外观检查的校正用夹具有效
申请号: | 201320184744.4 | 申请日: | 2013-04-12 |
公开(公告)号: | CN203231979U | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 伊藤克彦;永井大介;木下丰;益宪司;中村光男 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张劲松 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外观 检查 校正 夹具 | ||
1.一种外观检查的校正用夹具,其在配置于在基板上安装电子零件而制造安装基板的电子零件安装线,且基于由拍摄装置对所述基板进行拍摄而取得的图像信息进行检查对象物的外观检查的外观检查装置中,用于对与所述外观检查的检查项目对应地从所述图像信息中抽取的多个测量值进行校正而使用,其特征在于,该外观检查的校正用夹具具备:
单独校正块,其用于分别单独地对所述多个测量值进行校正而设置;
夹具托架,其拆装自如地保持有所述多个单独校正块,可由所述外观检查装置的基板输送机构来输送。
2.如权利要求1所述的外观检查的校正用夹具,其特征在于,
所述拍摄装置是取得三维图像信息的三维拍摄装置,
所述多个测量值包括表示来自所述检查对象物的检查对象位置的反射光入射到所述三维拍摄装置的光量的亮度信息、表示所述检查对象物的检查对象位置的水平方向及高度方向的位置的三维位置信息,
所述多个单独校正块包括:
亮度校正块,为了校正所述亮度信息,将上面的光反射特性设定为规定的特性;
水平位置校正块,为了校正所述水平方向的位置信息,以规定的位置精度形成有至少一个基准点及至少两个方向的基准线;
高度位置校正块,为了校正所述高度方向的位置信息,以规定的位置精度形成有多个高度基准面。
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