[实用新型]一种高抗干扰的低频检测装置有效

专利信息
申请号: 201320180289.0 申请日: 2013-04-11
公开(公告)号: CN203276291U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 任阳;付涛;成东峻;林贤德;徐雪旻 申请(专利权)人: 杭州华韵天略电子科技有限公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 320012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 抗干扰 低频 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种低频检测装置,尤其涉及一种高抗干扰的低频检测装置。

背景技术

公开号为CN102222210A的专利文献公开了一种基于低频触发的RFID通讯设备,包括125KHZ激励器、读卡器和电子标签。125KHZ激励器不间断的发送125KHZ电磁波,当电子标签进入电磁波触发范围时,电子标签的线圈耦合激励器的磁场产生感应电流获取能量,再激活2.4G射频模块。2.4G射频模块平时处于休眠状态,被125KHZ模块激活后转入主动状态,并发送ID信息。该系统在RFID的基础上,加入了低频触发模式,使低频覆盖范围外的电子标签不工作,一则降低了电子标签的功耗而延长了使用寿命;二则限制电子标签的工作区域,降低电子标签之间无线的干扰和获悉电子标签的动向。

以上的低频检测装置的缺点在于,容易受环境干扰的影响,如果环境干扰较大,电子标签处于低频触发边界时,会出现不稳定现象;而环境干扰进一步增大时,低频触发有可能失效。同时,标签卡和激励器的距离越远,电子标签受到外界环境的干扰越大(激励器发射的低频电磁波随距离的增加能量衰减迅速),甚至出现误触发。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的不足,本实用新型提供了一种高抗干扰的低频检测装置,解决了低频检测装置在某些高噪声环境中无法使用的问题。

一种高抗干扰的低频检测装置,包括低频信号发射器、低频信号检测器和阅读器,

所述的低频信号发射器用于周期性发射低频信号;

所述的低频信号检测器用于采集和处理所述的低频信号,将处理后的信号通过2.4GHz无线链路,并与所述的阅读器进行数据交互;

所述的低频信号检测器包括:

低频信号接收模块,用于接收所述的低频信号;

抗干扰处理模块,与低频信号接收模块连接,用于对低频信号进行处理;

第一射频收/发模块,用于实现低频信号检测器与阅读器进行数据交互;

以及用于供电的第二电源模块。

作为优选的,所述的低频信号发射器包括低频信号发射模块,控制所述低频信号发射模块的第一控制器,以及与所述第一控制器连接的第一电源模块。

第一控制器用于控制低频信号发射模块周期性发出低频信号,并为低频信号发射模块发射低频信号提供数据源。

进一步优选的,所述的低频信号接收模块装有三轴天线。

低频信号接收模块的天线可以为单轴、双轴或三轴,本实用新型选用三轴天线,三轴天线包含了三个两两垂直的小天线,这样就保证了低频信号检测器无论在空间中处于什么方位,低频信号的磁场线至少能可其中一个天线有较好的耦合,从而保证了低频信号的接收。

进一步优选的,所述的抗干扰处理模块包括:

与所述低频信号接收模块连接的信号隔离缓冲器;

与信号隔离缓冲器连接的多个信号隔离放大器;

以及用于对低频信号进行处理的处理器,并将处理后的信号输出至第一射频收/发模块。

本实用新型的信号隔离放大器为三个,低频信号接收模块提供的低频信号,依次通过信号隔离缓冲器和三个信号隔离放大器,前后模块隔离的设计,使得电路中各个节点的静态工作状态相对独立,大大的减小了器件之间的干扰。

抗干扰处理模块以ARM为处理核心,首先通过ADC采样获得原始信号,然后通过数字滤波处理,排除噪声和提取有效信号,最后通过有效信号的能量强度对距离进行补偿。最终实现在较差的电磁环境下,依然可以获得稳定可靠的检测信号,并且在低频覆盖区域内实现稳定触发。

作为优选的,所述的阅读器包括:

用于与第一射频收/发模块无线交互的第二射频收/发模块;

用于控制所述第二射频收/发模块的第二控制器,该第二控制器还用于与所述的服务器进行信息交互;

以及与所述第二控制器连接的第三电源模块。

进一步优选的,还设有与所述阅读器进行信息交互的服务器;所述的阅读器还用于实现低频信号检测器和服务器之间的信息交互。

第二控制器用于控制第二射频收/发模块实现与低频信号检测器的信息交互,而且还完成与服务器的信息交互,实现更高需求的业务,同样第二控制器也可以通过逻辑判断,实现一些简单的响应和外设控制。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

由于其高抗干扰的特点,使得低频信号检测器适用于更多的场合,在更强的干扰环境下,仍能保持良好的工作性能。

附图说明

图1为低频信号发射器的结构示意图。

图2为低频信号检测器的结构示意图。

图3为抗干扰处理器模块的结构示意图。

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