[实用新型]一种不拆头式变压器介质谱测试结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试结构，尤其是涉及一种不拆头式变压器介质谱测试结构。

背景技术

一般的，FDS测量方法是在需要测量的主绝缘系统两端加上不同频率的交流电压，通过测量这个交流电压和由整个轴对称的复合绝缘系统产生的电流，计算相应频率下的介损值和电容值。如前所述，IDAX测试仪提供了四种试品的接线方式。可根据实际设备的类型和现场具体情况开展。大致的原则如下：1)根据试品是否接地来确定UST或者GST方式；2)根据试品电容及杂散电容分布情况以确定是否采用屏蔽方式

以双绕组变压器为例，若对变压器主绝缘进行测量，因主绝缘并不接地，选择UST方式；因高、低压套管对地存在杂散电容，选择接地方式，在测试主绝缘C_HL时，高低压绕组套管的末屏是否接地常常对测量回路形成影响，若套管状态良好，末屏是否接地并不影响变压器主绝缘的测试，故在现场进行测试时，首先应确认套管是否正常、套管末屏是否接地等情况。由于母线上接有避雷器、电容式电压互感器和接地刀闸等，存在几万pF的附加电容，严重影响测量结果。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种结构简单、能够灵活改变接线方法的不拆头式变压器介质谱测试结构。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种不拆头式变压器介质谱测试结构，用于测试变压器中的高-中压绕组及低压绕组，所述的高-中压绕组及低压绕组连接构成一回路，该测试结构包括高压电极、低压电极、接地电极及测试部件，所述的高压电极经连接线路与低压绕组连接，所述的低压电极经连接线路与高-中压绕组连接，所述的测试部件连接在高-中压绕组及低压绕组连接构成的回路上。

所述的高-中压绕组及低压绕组连接构成的回路一端接地。

所述的高-中压绕组及低压绕组连接有电感线圈，所述的电感线圈之间串联有电容。

所述的高-中压绕组与回路之间设置有电容。

所述的低压绕组与回路之间设置有电容。

与现有技术相比，本实用新型的测量结果反映低压绕组对高中压绕组及地的整体绝缘，并且可以灵活改变接线方法，排除线路对试验的影响，还能对待测变压器的部分绝缘参数进行测量。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图中，1为高压电极、2为低压电极、3为接地电极、4为测试部件、5为低压绕组、6为高-中压绕组。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。

实施例

一种不拆头式变压器介质谱测试结构，其结构如图1所示，用于测试变压器中的高-中压绕组6及低压绕组5，其中高-中压绕组6及低压绕组5连接构成一回路，本实施例所公开的测试结构包括高压电极1、低压电极2、接地电极3及测试部件4，高压电极1经连接线路与低压绕组5连接，低压电极2经连接线路与高-中压绕组6连接，测试部件4连接在高-中压绕组6及低压绕组5连接构成的回路上，该回路的一端接地。其中，高-中压绕组6及低压绕组5连接有电感线圈，在两个电感线圈之间串联有电容C_HT，在高-中压绕组6与回路之间设置有电容C_T，低压绕组5与回路之间设置有电容C_H。

采用上述装置对备用变压器进行了FDS测量，变压器C_H和C_T部分绝缘在温度较低时的介损值较高，而C_HT部分绝缘的介损值则几乎不受温度的影响，可以做如下初步解释：变压器绕组间绝缘(C_HT)主要由油纸复合绝缘组成，其中纸板和撑条占有相当大的比例，纸中的含水量会对频域介电谱产生较大的影响，而绕组对地绝缘(C_H、C_T)则主要由变压器油组成，油的状态对绝缘状态起决定性作用。当温度降低时，变压器油溶解度降低，水分向纸板中扩散，但是这种扩散需要数月的时间才能达到平衡状态，这对于实际运行的、负荷动态变化的变压器是不可能达到的。当环境温度降低时，水分从油中析出转化为悬浮的自由水，从而使油呈现了较强的极性，介损增大。