[实用新型]一种测量大直径深锥孔的装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及机械加工领域，尤其涉及一种测量工件加工精度的装置，具体涉及一种测量大直径深锥孔的装置。

【背景技术】

已知的，在机械制造中，经常需要进行锥孔的加工和测量，在测量锥孔时通常需要对锥孔的半锥角和锥孔的大端直径或小端直径进行测量，目前在对小直径锥孔的半锥角和大端直径或小端直径测量时，通常使用与被测锥孔具有相同锥度的锥轴式锥度量规或将锥轴式锥度量规的圆锥台对称削去一部分而形成的板式锥度量规来完成对锥孔的测量，但上述两种量规由于自身结构的限制无法对大直径的锥孔进行测量，因为上述两种量规的重量会随着锥孔孔径的增大而大幅度增加，同时由于重量的原因导致上述两种量规在实际测量时不便于操作，甚至无法操作等，所以在测量大直径的锥孔时锥轴式锥度量规或板式锥度量规均不适合，更不适合对大直径深锥孔进行测量。

而在测量大直径锥孔的半锥角和锥孔的大端直径或小端直径时，目前本领域技术人员主要通过以下两种方法：

其中一种测量大直径锥孔的方法，结合附图1，本测量方法所使用的测量装置包括平尺8、等高量块3、球形测头21、球形测头角尺22、千分表5和千分表角尺23，在平尺8与等高量块3接触的基准面的两端分别设有球形测头角尺22和千分表角尺23，在所述球形测头角尺22和千分表角尺23上分别设有球形测头21和千分表5，所述球形测头21和千分表5的中心线在同一直线上且距平尺8的基准面距离相等；在使用本测量装置对被测工件1上的锥孔进行测量时，首先沿平尺8的长度方向调整千分表角尺23，并校准球形测头21到千分表5测头尺寸，进一步将平尺8的基准面直接置于锥孔的端面，此时就可以测量出锥孔的一个直径d₁,同时将平尺8的基准面到球形测头21的测头中心线或千分表5的测量头中心线的距离设为H，将等高量块3的高度设为h，然后将平尺8的基准面置于等高量块3上，此时就可以测量出锥孔的另一个直径d₂，然后通过如下公式就可以计算出锥孔的半锥角和大端直径，具体计算公式如下：

此时如果要测量锥孔更多截面的直径只需更换不同高度的等高量块3即可，然而，当被测量锥孔的深度增大时，在测量过程中球形测头角尺22和千分表角尺23的高度值就需要随之增大，即H值增大，当H值增大时将导致球形测头角尺22和千分表角尺23自身刚性以及它们与平尺8联接刚性的下降，从而降低测量精度，甚至无法正常测量，如果加大球形测头角尺22和千分表角尺23的刚性就会增大球形测头角尺22和千分表角尺23以及平尺8的外形结构尺寸，从而造成该测量装置的总重量的大幅度增加，同样将无法正常进行测量，因此该测量装置及测量方法只能适用于大直径浅锥孔的测量，而不适用于大直径深锥孔的测量；

另一种测量大直径锥孔的方法，结合附图2，本测量方法所使用的测量装置包括球头千分尺C26、定位尺25、端面可调定位块24、调整螺钉、定位销33、调整螺母28、调整支架29、调整螺柱、联接块30、调整支块31和拉紧钩32，在对锥孔进行测量前，首先旋拧调整螺钉使端面可调定位块21的下端面与锥孔大端端面接触“即共面”，同时定位尺25底面两棱边与锥孔孔壁接触“即定位尺25上设置的复数个定位孔27的中心对称面通过被测量锥孔母线”，然后通过调整螺母28、调整支架29、调整螺柱、联接块30和调整支块31的调整将拉紧钩11的钩头与锥孔小端面接触，并拉紧定位尺25使其固定，然后将球头千分尺C26的球头插入定位尺25上部的定位孔27中，此时球头千分尺C26的测量头的测量点是沿圆周为最大值、而沿锥孔母线为最小值的点“即球头千分尺C26中心线垂直于球头所接触母线的对称母线”，进一步从上向下依次将球头千分尺C26的球头插入定位尺25上的定位孔27中，以最上面的定位孔27和最下面的定位孔27为例，将球头千分尺C26的测量值分别记为M₁和M₆，将锥孔大端直径设为D、锥孔半锥角设为α、定位销33中心线与端面可调定位块24的定位底面的距离设为h、定位销33中心线与最上面定位孔27的距离设为L₀、定位销33中心线与最下面定位孔27的距离设为L₅，然后通过如下公式就可以计算出锥孔的半锥角和大端直径，具体计算公式如下：