[实用新型]一种孔轴线直线度激光检测装置有效
申请号: | 201320139617.2 | 申请日: | 2013-03-25 |
公开(公告)号: | CN203148400U | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 于大国;沈兴全;孟晓华;宁磊;王继明;苗鸿宾 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人: | 刘宝贤 |
地址: | 030051 山西省太原*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轴线 直线 激光 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种孔类零件直线度检测装置,特别涉及一种孔轴线直线度激光检测装置。
背景技术
深孔加工复杂且特殊,难以观察加工部位和刀具状况,加工过程受诸如刀杆变形、系统颤振、工件材质、钻头参数、切削参数、油液压力、排屑困难等多方面因素的影响,深孔零件常出现轴线偏斜的现象,一旦偏斜到某种程度,深孔零件轴线的直线度误差将产生急剧变化,造成钻头损坏、工件报废、产品精度低、质量不合格等不良后果。由于深孔加工服务于装备制造行业,深孔工件的质量直接影响装备制造业的发展,也限制了深孔向其他领域拓展的空间。
直线度检测贯穿于整个深孔加工过程中,是深孔领域控制产品质量的重要手段,直线度好的零件也可以使自身在与其他零件配合使用时发挥出最大的性能,提高总装精度。直线度是深孔加工必须考虑的一项基本指标,对于孔类零件,通常所说的直线度是指零件实际轴线相对于理论轴线的偏差。在深孔行业,轴线偏斜表现为实际轴线相对于理论轴线发生微位移变动或者微转角变动。
国内外在深孔直线度检测与纠偏技术方面的研究不断加深,但是相对其他计量项目而言,直线度检测技术显得落后,尤其表现在对大长工件孔轴线直线度检测方面,到目前为止,尚没有用于检测深孔轴线直线度偏差的成熟产品。实际中,工人师傅经常通过用卡尺在孔的两端沿不同径向方向测量壁厚的方法判定直线度好坏,这种方法不能测得深孔内部轴线偏差,也即不能实现对深孔零件直线度的全程连续动态检测,很不精准,容易陷入以点概面的误区。而一些激光直线度检测仪器,不能实现同时检测微位移变动和微转角变动的功能。
轴线偏斜严重制约孔类零件的质量,提高深孔直线度检测技术水平,为深孔加工过程提供参考依据,进而提高深孔零件质量,推动装备制造水平的提升。因此,研究一种可以同时检测微位移变动和微转角变动的深孔直线度检测仪器显得尤为重要。
发明内容
本实用新型的目的旨在克服上述缺点,提供一种利用激光技术全程动态检测深孔实际轴线相对于理论轴线的微位移和微转角变化的孔轴线直线度激光检测装置。
为达到上述目的,本实用新型采用如下解决方案:一种孔轴线直线度激光检测装置,包括T型拉杆,其特征在于:T型拉杆穿过第一楔形体和第二楔形体的中间孔安装在封闭的套筒内,第一楔形体和第二楔形体与套筒的内壁接触,T型拉杆的杆头穿过套筒前端面设有的与第一楔形体和第二楔形体的中间孔一致的中间孔伸出套筒外,T型拉杆的杆头连接拉绳,拉绳通过定滑轮连接在与电机相连的滚筒上;在T型拉杆上设有前弹簧、中弹簧和后弹簧,前弹簧、中弹簧和后弹簧分别位于套筒前端面与第一楔形体、第一楔形体与第二楔形体、第二楔形体与T型拉杆的T型台阶之间;在套筒的筒壁上设有第一楔形件和第二楔形件,第一楔形件的一端与深孔零件的孔壁接触,另一端与第一楔形体倾斜接触,第二楔形件的一端与深孔零件的孔壁接触,另一端与第二楔形体倾斜接触;在套筒的后端面上设有内激光发射器和位移位置敏感探测器,套筒的后端外边设有支架,在支架上设有转角位置敏感探测器和外激光发射器,转角位置敏感探测器接收内激光发射器发出的光线,位移位置敏感探测器接收外激光发射器发出的光线,转角位置敏感探测器和位移位置敏感探测器通过A/D转换器与计算机系统相连。
上述的孔轴线直线度激光检测装置,其特征在于:所述T型拉杆的杆头上设有连接拉绳的拉钉。
上述的孔轴线直线度激光检测装置,其特征在于:所述第一楔形件和第二楔形件与深孔零件的孔壁接触的一端设有可绕自身轴转动的左滚轮和右滚轮,数量均为三个或三个以上。
上述的孔轴线直线度激光检测装置,其特征在于:所述第一楔形件和第二楔形件与第一楔形体和第二楔形体倾斜接触的斜角为10o-80o。
上述的孔轴线直线度激光检测装置,其特征在于:所述第一楔形件和第二楔形件在靠近套筒内壁处设置销钉。
本实用新型所述的T型拉杆在拉绳的作用下,做水平向左的运动,使前弹簧、中弹簧和后弹簧处于压缩状态,弹簧推动楔形体,顶起楔形件,从而确保左滚轮和右滚轮与深孔零件的孔内壁始终接触。
本实用新型所述的位移位置敏感探测器接收外激光发射器发出的光线,用来检测零件孔的实际轴线相对于理论轴线的微位移变化,工作时,若实际轴线相对于理论轴线只有微位移变化,光斑在位移位置敏感探测器上产生一个变动量,该变动量就是微位移变化。
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