[实用新型]基于深N阱NMOS晶体管的源极跟随器有效

专利信息
申请号: 201320108726.8 申请日: 2013-03-11
公开(公告)号: CN203104402U 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 刘松;杨飞琴;吴柯 申请(专利权)人: 香港中国模拟技术有限公司
主分类号: H03K19/0185 分类号: H03K19/0185
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 唐立;朱海煜
地址: 中国香港德辅道中*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要:
搜索关键词: 基于 nmos 晶体管 跟随
【权利要求书】:

一种基于深N阱NMOS晶体管的源极跟随器,包括电流源和用作输入器件的深N阱NMOS晶体管,所述深N阱NMOS晶体管包括:

P型衬底,

在所述P型衬底中构图掺杂形成的深N阱,

在所述深N阱中构图掺杂形成的P阱,

从所述P阱中引出的体端(B),

在所述P阱中构图掺杂形成的源区和漏区,

从所述深N阱引出的深N阱引出极,

从所述漏区中引出的源极(S),

从所述漏区中引出的漏极(D),以及

栅极(G);

其中,所述栅极被定义为所述源极跟随器的输入端(Vin),所述源极被定义为所述源极跟随器的输出端(Vout),所述漏极和深N阱引出极接入高电平信号(VDD),所述电流源的两端分别连接所述源极和接地端;

其特征在于,所述体端(B)与所述输入端(Vin)连接,以至于使所述源极与所述体端之间的电压(Vsb)在输入信号变化的情况下保持恒定。

 如权利要求1所述的源极跟随器,其特征在于,所述P阱被所述深N阱包围。

 如权利要求1所述的源极跟随器,其特征在于,所述深N阱NMOS晶体管中,存在所述源区与所述P阱之间形成的二极管所导致的第一寄生电容(Csb)、所述漏区与所述P阱之间形成的二极管所导致的第二寄生电容(Cdb)、所述P阱与所述深N阱之间形成的二极管所导致的第三寄生电容(Cb)。

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