[实用新型]LED晶粒发光量测设备

说明书

技术领域

本实用新型实用新型涉及一种LED晶粒量测设备，特别是设计一种LED晶粒发光量测设备。

背景技术

发光二极管（Light-Emitting Diode,LED）是一种可发光的半导体电子组件，其利用电能转成光能的方式发光。发光二极管具有效率高、寿命长、不易破损、反应速度快、可靠性高等传统光源不及的优点，所以逐渐应用于各种需要发光的装置，例如显示装置或照明装置。发光二极管的光学特性将决定其质量好坏，因此量测发光二极管的光学特性是相当重要的。

如图5所示，现有的量测LED晶粒的光学特性是将待测的LED晶粒a70对着积分球a7的收光口71来收集LED晶粒a70发出的光，再经由各种光学仪器去量测其光学特性。进一步而言，通常是将晶圆摆放在承载台72上，使待测的LED晶粒a70接触探针a73后发光来量测。为了避免晶圆上的其它LED晶粒与积分球a7发生触碰而造成其它LED晶粒损坏，所以待测的LED晶粒a70必须离积分球a7的收光口71有一定距离。而收光口71与待测的LED晶粒a70之间的距离让积分球a7无法将待测的LED晶粒a70所发出的光完全收进积分球a7内，此即为漏光。导致积分球8的光学仪器所量测而得的光亮度与待测的LED晶粒a70实际所发出的光亮度是有所误差的。换言之，现有的量测手段中，积分球a7无法将待测的LED晶粒a70完整包覆在内，使得收光角度aθ'小于180度，造成收光率低，而且量测的效果也大打折扣。

实用新型内容

因此，本实用新型之目的即是提供一种高收光率的LED晶粒发光量测设备。

本实用新型为解决现有技术的问题所采用的技术手段是提供一种LED晶粒发光量测设备，用于量测一LED晶粒的光学特性，LED晶粒发光量测设备包括一积分球、一探针及一移动式承载棒。积分球连接一光学侦测器，积分球具有一量测入口，以及在积分球内具有一量测位置。探针具有一电性接触部，电性接触部于量测位置与LED晶粒电性接触。移动式承载棒具有一移动式承载面供承载LED晶粒，LED晶粒自积分球之外通过量测入口而移动至位于积分球内的量测位置而点亮量测。

在本实用新型的一实施例中，移动式承载面的面积小于量测入口。

在本实用新型的一实施例中，积分球还具有一探针置入槽口。

在本实用新型的一实施例中，还包括一位移控制装置，连接积分球及移动式承载棒，控制积分球及移动式承载棒的纵向相对距离，以使LED晶粒位于量测位置。

在本实用新型的一实施例中，位移控制装置包括一第一升降机构及一第二升降机构，第一升降机构系连接积分球，第二升降机构系连接移动式承载棒。

在本实用新型的一实施例中，第二升降机构具有一吸附构件。

在本实用新型的一实施例中，位移控制装置更包括一传感器，用于感测LED晶粒与量测位置的相对距离。

在本实用新型的一实施例中，还包括一晶圆环，晶圆环的一环孔在一量测移置路径上，量测移置路径通过量测入口及量测位置。

在本实用新型的一实施例中，积分球与光学侦测器之间以一光纤连接。

在本实用新型的一实施例中，还包括一探针调整机构，连接探针。

本实用新型的有益效果：

通过本实用新型所采用的技术手段，可以将一特定的LED晶粒自量测入口顶入至积分球内的量测位置，使得LED晶粒位于量测位置与探针的电性接触部接触而发光，所以积分球能以180度或以上的收光角度将LED晶粒所发出的光接收，并传输至光学侦测器以量测分析。通过增加收光角度、提高收光率以及减少漏光，而更精确地量测LED晶粒的光学特性。

本实用新型所采用的具体实施例，将通过以下的实施例及附图作进一步之说明。

附图说明

图1为本实用新型的一实施例的LED晶粒发光量测设备之立体图；

图2为本实用新型的一实施例的LED晶粒发光量测设备的积分球的立体图；

图3、图4为本实用新型的一实施例的LED晶粒发光量测设备之量测示意图；

图5为现有技术的LED晶粒发光量测设备的量测示意图。

1    工作平台

11   探针

111  电性接触部

12   探针调整机构

13   晶圆容置口

2    位移控制装置

21   第一升降机构

22   第二升降机构

221  吸附构件

23   传感器

3    晶圆环

31   环孔

4    积分球

41   量测入口