[实用新型]低阻测试探针

说明书

本实用新型涉及低阻测试探针。

现有的低阻测试探针是带弹力的，其与弹簧是一体的，能生产最大的弹簧是80#，从而使生产成本提高，而且现有的低阻测试探针的电阻值大，从而使其导电性能减弱。

本实用新型要解决的技术问题是提供一种生产成本低，导电性能强的低阻测试探针。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：低阻测试探针，包括针身，及与针身连接的针头；所述针头延伸出的一端为尖头。

进一步地，所述针身的长度为8.14毫米，针身的直径为0.28毫米。

进一步地，所述针头的长度为1毫米，针头的直径为0.11毫米。

进一步地，所述探针与探针之间设置有A距离和B距离，A距离为0.3毫米，B距离为0.3毫米。

进一步地，所述探针与探针之间设置有A距离和B距离，A距离为0.3毫米，B距离为0.3毫米。

进一步地，所述探针测试的金手指与金手指之间设置有C距离和D距离，C距离为0.1毫米，D距离为0.06毫米。

本实用新型的低阻测试探针，由于所述针头延伸出的一端为尖头，不需要弹力，这样探针不需要和弹簧设置成一体，从而使探针的生产成本降低；而且针头延伸出的一端为尖头时，探针的电阻力小，从而使探针的导电性能加强。

图1为本实用新型低阻测试探针的立体图；

图2为本实用新型低阻测试探针的分布图。

本实施例中，参照图1和图2所示，低阻测试探针，包括针身1，及与针身1连接的针头2；所述针头1延伸出的一端为尖头，由于针头1延伸出的一端为尖头，不需要弹力，这样探针不需要和弹簧设置成一体，从而使探针的生产成本降低；而且针头延伸出的一端为尖头时，探针的电阻力小，从而使探针的导电性能加强；所述针身1的长度为8.14毫米，针身1的直径为0.28毫米；所述针头2的长度为1毫米，针头2的直径为0.11毫米；所述探针与探针之间设置有A距离和B距离，A距离为0.3毫米，B距离为0.3毫米，；所述探针测试的金手指与金手指之间设置有C距离和D距离，C距离为0.1毫米，D距离为0.06毫米，这样探针与探针就不会相互接触，不会干扰到低阻测试。

本实用新型的低阻测试探针，由于所述针头延伸出的一端为尖头，不需要弹力，这样探针不需要和弹簧设置成一体，从而使探针的生产成本降低；而且针头延伸出的一端为尖头时，探针的电阻力小，从而使探针的导电性能加强。

上述实施例，只是本实用新型的一个实例，并不是用来限制本实用新型的实施与权利范围，凡与本实用新型权利要求所述内容相同或等同的技术方案，均应包括在本实用新型保护范围内。