[实用新型]用于测试发热型产品的老化室

说明书

本实用新型涉及老化室，特别是指一种用于测试发热型产品的老化室。

老化室是针对高性能电子产品仿真出一种现场使用环境，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验手段。电子产品的高低温老化试验是排除电子产品早期失效，控制产品质量的必要手段。老化室内温度的稳定性和温度分布的均匀性是老化室的重要技术指标，将直接影响放置在不同老化室区域内电子产品的老化结果。目前，国内很多企业所使用的电子产品老化室，其温度控制系统往往仅检测老化室内某一点的温度，因而实际使用过程中存在原老化室单点监测温度致使老化区域温度分布不均匀、老化效果不理想等问题。

本实用新型提出一种用于测试发热型产品的老化室，其温度分布均匀，温度稳定，老化效果好。

本实用新型的技术方案是这样实现的：一种用于测试发热型产品的老化室，包括老化室房体，在所述老化室房体内设置有放置待测产品的测试区，在所述老化室房体内设置有数个温度传感器，所述温度传感器连接有温度控制器，与所述测试区对应设置有与温度控制器连接的排风风机，在所述老化室房体上设置有进风口，在所述进风口内安装有与温度控制器连接的进风风机。

通过本技术方案，可采用多个温度传感器环抱测试区进行设置，由此避免单一点测试的偏差；而通过进风风机和排风风机的设置，可使空气对流起来，避免部分区域过热或过冷。将运转时本身有发热功率的待测产品置于测试区，在通过待测产品本身的发热能达到老化所需要的温度的情况下，当测试到的温度超过温度控制器的设定值时，风机开始运行，进风风机将室外的空气吸进老化室房体内，排风风机将老化室房体内的热空气排出到房体外，从而降低老化室房体内的温度；当温度低于温度控制器设定值时，风机停止运行，从而控制风机的启停，达到调节老化室房体内温度在一个恒定值附近的目的。

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种用于测试发热型产品的老化室的结构示意图。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一种用于测试发热型产品的老化室，如图1所示，包括老化室房体1，在所述老化室房体1内设置有放置待测产品的测试区2，在所述老化室房体1内设置有数个温度传感器，所述温度传感器连接有温度控制器，与所述测试区2对应设置有与温度控制器连接的排风风机，在所述老化室房体1上设置有进风口，在所述进风口内安装有与温度控制器连接的进风风机8。

可采用多个温度传感器环抱测试区2进行设置，由此避免单一点测试的偏差；而通过进风风机8和排风风机的设置，可使空气对流起来，避免部分区域过热或过冷。将运转时本身有发热功率的待测产品置于测试区2，在通过待测产品本身的发热能达到老化所需要的温度的情况下，当测试到的温度超过温度控制器的设定值时，风机开始运行，进风风机8将室外的空气吸进老化室房体1内，排风风机将老化室房体1内的热空气排出到老化室房体1外，从而降低老化室房体1内的温度；当温度低于温度控制器设定值时，风机停止运行，从而控制风机的启停，达到调节老化室房体1内温度在一个恒定值附近的目的。

进一步的，具体设置可以是在测试区2相对的第一侧和第三侧的老化室房体1顶部分别设置有两个排风风机，在测试区2第一侧设置有一个温度传感器，在所述测试区2相对的第二侧和第四侧分别设置有一个温度传感器，所述进风口设置在老化室房体1的一底角处。如图1所示，测试区2第一侧对应的为第三排风风机6和第四排风风机7，测试区2第三侧对应的为第一排风风机4和第二排风风机5。测试区2第一侧设置的为第二温度传感器10，其第二侧和第四侧分别设置的为第一温度传感器9和第三温度传感器11。