[实用新型]一种平面颗粒检测系统

说明书

本实用新型涉及一种平面颗粒检测系统，属于电子行业技术领域。

目前电子行业内对微颗粒的控制越来越严格，生产中无法避免粉尘的掉落与产生，而且没有有效的去除粉尘方法；目前去除粉尘的通用方式是使用显微镜进行检查，但是该方式无法分辨极小的颗粒，留有部分微小粉尘，影响生产。同时行业内生产中去除粉尘还有的采用CCD+镜头放大，使用该方法去除3um以下的细微颗粒需要放大250倍以上，但是放大250倍后就无法实现全检，影响生产效率。

所以此专利就是解决在一定的放大倍数；可以通过目视将较小的颗粒（小于3um） 进行识别及去除；

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足，提供一种固定的放大倍数可以通过目视将较小的颗粒进行识别及去除的平面颗粒检测系统。

本实用新型的技术方案为，一种平面颗粒检测系统，它至少由光源、图像接收器、信号转换、和显示器组成；所述的图像接收器连接信号转换；所述的信号转换连接显示器。使用时通过光源照射物体和物体上的粉尘，由于光源和粉尘之间有一定的角度，在粉尘表面形成光线的漫反射；该物体表面的图像被图像接收器收集后在信号转换中进行信号转换，最后由显示器输出。

所述的光源的照射角度为15度—75度；所述的光源的照射角度优选为45度。

本实用新型可以将目视粉尘大小由原来的8um转变为3um以下，成品测试中良率能提升约3%. 在实际生产中检出的比例基本为3‑10%,可以有效提升良率，每年公司可以为公司创造30万/天利润。

本实用新型可以将目视粉尘大小由原来的8um转变为3um以下，成品测试中良率能提升约3%. 在实际生产中检出的比例基本为3‑10%,可以有效提升良率，每年公司可以为公司创造30万/天利润。

图1是本实用新型结构示意图；

如图1所示，一种平面颗粒检测系统，它至少由光源1、图像接收器2、信号转换3、和显示器4组成；所述的图像接收器2连接信号转换3；所述的信号转换3连接显示器4。使用时通过光源1照射物体和物体上的粉尘，由于光源1和粉尘之间有一定的角度，在粉尘表面形成光线的漫反射；该物体表面的图像被图像接收器2收集后在信号转换3中进行信号转换，最后由显示器4输出。

所述的光源1的照射角度为15度—75度；所述的光源1的照射角度优选为45度。

实施例1：

1 、作业员将需要检验的产品放到检验平台上后，可以调整图像接收器2与产品的距离，使产品在显示器4上能够得到最清晰的显示；

2 、调图像接收器2整到合适的距离后，需要调整斜视光源1的位置，使产品上的微小粉尘通过光源来增亮，通过图像接收器2接收及信号转换3在显示器4上输出，通过肉眼观察； 

3、作业员在显示器4上目视到微小粉尘，使用粘尘物体对进行产品表面清洁，以达到去除表面异物的目的。