[实用新型]漏电开关校验仪有效

专利信息
申请号: 201320020508.9 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN203025303U 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 闵小飘;郭亮;曾祥全;卢贤贵;王雅东 申请(专利权)人: 乐清市先驱自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/327
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 325000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 漏电 开关 校验
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种漏电检测装置,特别涉及漏电开关校验仪。 

背景技术

漏电开关校验仪,是一种专用于校验漏电开关的动作时间和动作电流的专用测量设备,主要用于断路器生产厂商的漏电开关的出厂检测和产品调试。 

    校验仪的工作原理是将一个可调的电阻穿入一个电压回路,从而产生可调的模拟电流,并串入漏电开关的工作回路,之后通过手动调节可调电阻,而改变电流,当电流升至规定值时,漏电开关脱扣,从而测得其动作电流。若电阻调至某个规定值,则输出电流也为一固定值,此时,将漏电开关串入电流回路,产品将在规定时间脱扣,此时间即为漏电动作时间。 

现有的漏电开关校验仪,它在校验仪存在以下几点缺陷:1.可调电阻寿命短;2.调节精度与人为因素关系大;3.不同规格的模拟电流,所需的可调电阻的功率和精度匹配较困难;4.不能实现远程或智能控制;5.模拟电流的上升速率不平稳。 

实用新型内容

为了克服现有技术中存在的上述不足之处,本实用新型的目的在于提供一种漏电开关校验仪,采用多个可控硅程控接入固定电阻,实现阻值的调节。 

为了达到上述之目的,本实用新型采用如下具体技术方案:漏电开关校验仪,包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块,其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输出模块,所述微控制器模块的输入输出连接有通讯模块,所述电阻选通网络模块还包括移位寄存器级联结构。 

所述漏电测量模块由电流互感器T1将待测的交流电流,转换为等比例电流,并经二极管D1、D2、D3、D4组成的全桥整流电路和并联的采样电阻R4和R5,转换为正弦半波脉动的直流电压IN-,直流电压IN-经由电阻R1、R2、R3和运放U1组成的反向放大器,进行放大,并经由运放U2、U3、二极管D5、D6、D7、C1和R6组成的峰值保持电路,最终通过R10和C2组成的低通滤波器后,送入微控制器的电流测量端,微控制器输出的电流泄放信号,经由电阻R7、光耦U4隔离后,使+15V电压经过R8、U4、D8、R9后驱动开关管Q1。 

所述时间测量模块由IN-信号通过R11、R12、R13及运放U5组成的反向放大器,经稳压二极管D9,进入R14和C3组成的并联电路,得到含有一定纹波的直流信号,该信号经由R15、R16和运放U6组成的比较器,输出经电阻R17和稳压二极管D10稳压,送入微控制器的时间测量端。 

所述电阻选通网络模块至少包括两组或两组以上,其电阻选通网络的输入端连接有发光二极管LED1,发光二极管LED1连接电阻R21,电阻R21连接光耦U7,光耦U7的输出两端分别连接电阻R22、电阻R23,并且与双向可控硅T2、电阻R24、电容C6、压敏电阻Y1、电阻R25,外置电压V1经过T2和R25,得到相应比例的电流,该电流串入试品中。 

所述移位寄存器级联结构包括芯片IC1和芯片IC2,IC1和IC2按照级联方式连接,微控制器的串行数据信号disp_data和移位时钟信号disp_shift、锁存时钟信号disp_lock,分别连接到IC1和IC2的相应引脚,且这些信号输入前,经由R18、R19、R20电平上拉,并经过电容C8和C9滤波,IC1和IC2的输出将驱动所述电阻选通网络模块。 

与现有的技术相比,本实用新型具有以下突出优点和效果:本实用新型使传统的不可程控的漏电开关校验仪实现程控化,提高了测试仪的稳定性和精度,并可方便的应用于自动测试线中,在误差允许的范围内,最短1s的时间即可从起始电流升至终止电流,极大的提高产品的校验速度和校验效率,并且每个回路都有足够大的固定电阻接入,以及每个可控硅都有足够的耐压值,整套产品的故障率极低。 

附图说明

图1为本实用新型的原理框图; 

图2为本实用新型漏电测量模块的电路图;

图3为本实用新型时间测量模块的电路图;

图4为本实用新型电阻选通网络模块的电路图;

图5为本实用新型移位寄存器级联结构的电路图;

下面结合附图对本实用新型作进一步的详细说明。

具体实施方式

    为了进一步解释本实用新型的技术方案,下面通过具体实施例来对本实用新型进行详细阐述。   

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