[实用新型]激光测距的光路结构有效
| 申请号: | 201320015898.0 | 申请日: | 2013-01-14 |
| 公开(公告)号: | CN203287522U | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
| 发明(设计)人: | 李能焯 | 申请(专利权)人: | 仲阳企业有限公司 |
| 主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S17/08;G02B17/02 |
| 代理公司: | 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 | 代理人: | 郑永康 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 激光 测距 结构 | ||
1.一种激光测距的光路结构,其特征在于,包括有一机体及组设于机体内部的一发光组件,其中:
该机体内设有一透射闸道及一接收闸道,且于该机体内另设有一连通透射闸道与接收闸道的校正闸道;
该发光组件组设于透射闸道内,且发光组件发射二道光束,其为一内光路与一外光路,该外光路由透射闸道透射而出,而该内光路则经由校正闸道传递至接收闸道,又该外光路与内光路间形成具一夹角空间,另于接收闸道内设有一光接收器。
2.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述发光组件进一步包括有一电性基板与一激光芯片,该激光芯片与电性基板电性连接,而该外光路与内光路由激光芯片照射透出。
3.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述发光组件进一步包括有一电性基板与数个激光芯片,该激光芯片与电性基板电性连接,而该外光路与内光路由数个激光芯片照射透出。
4.根据权利要求3所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步于该机体上另设有一与发光组件电性连接的控制装置,该控制装置控制数个激光芯片的亮灭的数量。
5.根据权利要求1至4所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述外光路与内光路由发光组件所照射出所形成的夹角空间为2度~180度。
6.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述校正闸道进一步具有一反射部,该反射部反射内光路至接收闸道的光接收器。
7.根据权利要求6所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述校正闸道的反射部进一步另设有一反射片,且该反射片为反射菱镜或全反射片。
8.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步在该校正闸道内另设有一光纤导线,该光纤导线由透射闸道经过校正闸道连通至接收闸道的光接收器。
9.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步于该接收闸道内另设有一滤光片,该滤光片反射或过滤内光路,并朝接收闸道的光接收器照射。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于仲阳企业有限公司,未经仲阳企业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320015898.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





