[实用新型]激光测距的光路结构有效

专利信息
申请号: 201320015898.0 申请日: 2013-01-14
公开(公告)号: CN203287522U 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 李能焯 申请(专利权)人: 仲阳企业有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08;G02B17/02
代理公司: 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 代理人: 郑永康
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 激光 测距 结构
【权利要求书】:

1.一种激光测距的光路结构,其特征在于,包括有一机体及组设于机体内部的一发光组件,其中:

该机体内设有一透射闸道及一接收闸道,且于该机体内另设有一连通透射闸道与接收闸道的校正闸道;

该发光组件组设于透射闸道内,且发光组件发射二道光束,其为一内光路与一外光路,该外光路由透射闸道透射而出,而该内光路则经由校正闸道传递至接收闸道,又该外光路与内光路间形成具一夹角空间,另于接收闸道内设有一光接收器。

2.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述发光组件进一步包括有一电性基板与一激光芯片,该激光芯片与电性基板电性连接,而该外光路与内光路由激光芯片照射透出。

3.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述发光组件进一步包括有一电性基板与数个激光芯片,该激光芯片与电性基板电性连接,而该外光路与内光路由数个激光芯片照射透出。

4.根据权利要求3所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步于该机体上另设有一与发光组件电性连接的控制装置,该控制装置控制数个激光芯片的亮灭的数量。

5.根据权利要求1至4所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述外光路与内光路由发光组件所照射出所形成的夹角空间为2度~180度。

6.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述校正闸道进一步具有一反射部,该反射部反射内光路至接收闸道的光接收器。

7.根据权利要求6所述的激光测距的光路结构,其特征在于,所述校正闸道的反射部进一步另设有一反射片,且该反射片为反射菱镜或全反射片。

8.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步在该校正闸道内另设有一光纤导线,该光纤导线由透射闸道经过校正闸道连通至接收闸道的光接收器。

9.根据权利要求1所述的激光测距的光路结构,其特征在于,进一步于该接收闸道内另设有一滤光片,该滤光片反射或过滤内光路,并朝接收闸道的光接收器照射。

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