[发明专利]磁共振图像重建方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310753856.1 申请日: 2013-12-31
公开(公告)号: CN104166113A 公开(公告)日: 2014-11-26
发明(设计)人: 翟人宽;张卫国 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/561 分类号: G01R33/561
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201815 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 图像 重建 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及磁共振成像领域,尤其涉及一种磁共振图像重建方法及装置。

背景技术

在磁共振成像技术中,由于磁共振采用多通道对数据进行采集,因此线圈敏感度的不均匀会造成图像的亮暗错误,对临床诊断会造成一定的影响。所以对图像亮暗错误进行校正,在磁共振中显得尤为重要。常用的技术中,比较突出的是预扫描均一化校正技术,利用预先扫描要成像的区域,扫描时利用局部线圈与VTC线圈两种线圈进行扫描,由于VTC线圈是信号均匀的,所以利用VTC与局部线圈亮暗的差异来进行图像校正。但是由于该校正是发生在图像域的,所以重建过程中,大量的局部线圈数据要反复利用,最终才能得到合并后的数据,这样一方面影响计算速度。

发明内容

为了解决现有磁共振成像在重建的过程中局部线圈数据反复利用导致占用计算资源过多,计算速度下降的问题,本发明提供了一种磁共振图像重建方法。

一种磁共振图像重建方法,包括:

获取满采样的多通道K空间数据K1full

在K空间,对所述数据K1full进行校正得到优化数据Kfull,所述优化数据Kfull=N*K1full,N为局部线圈-VTC线圈校正参数;

将所述优化数据Kfull转至图像域获取图像。

优选地,通过如下方法获取所述局部线圈-VTC线圈校正参数N:

获取预扫描成像区域局部线圈以及VTC线圈分别采集的数据K1、Kvtc

利用所述数据K1、Kvtc分别求得某一层面内的预扫描K空间数据K1d、Kvtcd

合并所有通道的数据Kvtcd,得到信号均匀的K空间数据Kvctd0

选取卷积核并通过映射关系K1dN=Kvtcd0计算所述局部线圈-VTC线圈校正参数N。

优选地,所述卷积核的大小为2×2×CH。

优选地,直接通过全采样获取满采样的多通道K空间数据K1full;或者获取欠采样的多通道数据,通过算法将所述欠采样的多通道数据填满得到所述满采样的多通道K空间数据K1full

优选地,所述算法为GRAPPA算法或者SPIRIT算法。

优选地,通过傅里叶变换将所述优化数据Kfull转至图像域获取图像。

本发明还提供了一种磁共振图像重建装置,包括:

数据采集单元,用于获取满采样的多通道K空间数据K1full

K空间数据校正单元,用于在K空间对所述数据K1full进行校正得到优化数据Kfull,所述优化数据Kfull=N*K1full,N为局部线圈-VTC线圈校正参数;

图像重建单元,用于将所述优化数据Kfull转至图像域获取图像。

优选地,还包括校正参数获取单元,用于通过如下方式获取局部线圈-VTC线圈校正参数N:

获取预扫描成像区域局部线圈以及VTC线圈分别采集的数据K1、Kvtc

利用所述数据K1、Kvtc分别求得某一层面内的预扫描K空间数据K1d、Kvtcd

合并所有通道的数据Kvtcd,得到信号均匀的K空间数据Kvctd0

选取卷积核并通过映射关系K1dN=Kvtcd0计算所述局部线圈-VTC线圈校正参数N。

优选地,所述数据采集单元用于直接通过全采样获取满采样的多通道K空间数据K1full;或者获取欠采样的多通道数据,通过算法将所述欠采样的多通道数据填满得到所述满采样的多通道K空间数据K1full

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