[发明专利]掉电记忆电路的掉电记忆方法及掉电记忆电路

说明书

技术领域

本发明涉及电路技术领域，具体涉及一种掉电记忆电路的掉电记忆方法及掉电记忆电路。

背景技术

家电产品分为带电池和不带电池两种，带电池的作用主要是为了家电产品在掉电时给芯片提供能量以记忆工作参数，而不带电池的家电产品则无法长时间保存工作参数，只能依靠电容的残存电量来维持芯片的运行，然而其维持时间非常短，而且还存在数据随机丢失的风险。

发明内容

本发明的目的在于提供一种掉电记忆电路的掉电记忆方法及掉电记忆电路，旨在延长掉电记忆电路在掉电时保存工作参数的时间。

为了实现本发明的目的，本发明提供一种掉电记忆电路的掉电记忆方法，包括：

S1，设置供电电容，用于在掉电记忆电路掉电时向IC芯片供电；

S2，设置电压检测电容，用于在掉电记忆电路掉电时由IC芯片进行电压检测；

S3，在掉电记忆电路掉电时，IC芯片检测电压检测电容的电压并与设定的低功耗电压进行比较，IC芯片在检测到电压检测电容的电压低于低功耗电压时切换为低功耗模式，然后IC芯片检测电压检测电容的电压并与设定的激活电压进行比较；

S4，IC芯片在检测到电压检测电容的电压高于激活电压时切换为正常模式，并执行步骤S3，否则仍使IC芯片处低功耗模式直至IC芯片复位。

相应的，本发明提供一种掉电记忆电路，包括：IC芯片、与IC芯片连接的电阻、与电阻串接并接地的电压检测电容、并联在电阻两端的截止二极管以及与IC芯片连接的供电电容，所述供电电容在掉电记忆电路掉电时向IC芯片供电，所述IC芯片在掉电记忆电路掉电时检测电压检测电容的电压，且IC芯片在电压检测电容的电压低于低功耗电压时切换为低功耗模式，IC芯片在切换为低功耗模式后电压检测电容的供电电压高于激活电压时切换为正常模式。

优选地，所述电阻连接IC芯片的AN引脚，所述供电电容连接IC芯片的VDD引脚和GND引脚。

优选地，所述电压检测电容为瓷片电容，所述供电电容为电解电容。

相应的，本发明还提供一种掉电记忆电路，包括：IC芯片、与IC芯片连接的电阻、与电阻串接并接地的电压检测电容、连接在电压检测电容和电压源VDD之间的截止二极管以及与IC芯片连接的供电电容，所述供电电容在掉电记忆电路掉电时向IC芯片供电，所述IC芯片在掉电记忆电路掉电时检测电压检测电容的电压，且IC芯片在电压检测电容的电压低于低功耗电压时切换为低功耗模式，IC芯片在切换为低功耗模式后电压检测电容的供电电压高于激活电压时切换为正常模式。

由于本发明方法和掉电记忆电路在掉电时，通过供电电容向IC芯片供电，并使IC芯片检测电压检测电容的电压以在低功耗模式和正常模式之间切换来延长供电电容的放电时间，从而可以在掉电记忆电路掉电时延长IC芯片保存工作参数的时间。

附图说明

图1为本发明掉电记忆电路的掉电记忆方法的流程图；

图2为应用本发明方法的掉电记忆电路的第一实施例的电路图；

图3为图2所示掉电记忆电路工作原理图；

图4为应用本发明方法的掉电记忆电路的第二实施例的电路图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供一种掉电记忆电路的掉电记忆方法，请参阅图1，其揭示了本发明掉电记忆电路的掉电记忆方法的一实施例，在本实施例中，掉电记忆电路的掉电记忆方法包括：

S1，设置供电电容，用于在掉电记忆电路掉电时向IC芯片供电；

S2，设置电压检测电容，用于在掉电记忆电路掉电时由IC芯片进行电压检测；

S3，在掉电记忆电路掉电时，IC芯片检测电压检测电容的电压并与设定的低功耗电压进行比较，IC芯片在检测到电压检测电容的电压低于低功耗电压时切换为低功耗模式，然后IC芯片检测电压检测电容的电压并与设定的激活电压进行比较；

S4，IC芯片在检测到电压检测电容的电压高于激活电压时切换为正常模式，并执行步骤S3，否则仍使IC芯片处低功耗模式直至IC芯片复位。

由于本发明方法通过供电电容向IC芯片供电，并使IC芯片检测电压检测电容的电压以在低功耗模式和正常模式之间切换来延长供电电容的放电时间，从而可以在掉电记忆电路掉电时延长IC芯片保存工作参数的时间。