[发明专利]一种基于改进型克隆选择算法的模拟电路故障诊断方法

权利要求书

1.一种基于改进型克隆选择算法的模拟电路故障诊断方法，其特征在于，包括： 

步骤一、提取训练样本； 

令被测模拟电路处于各种状态；在每种状态下，从被测模拟电路的M个节点提取的特征值，每个节点提取n种类型的特征值；则一个节点的n种类型特征值构成一个个体，表示为A＝{a₁，a₂，…，a_n}，M个个体组成一个训练样本；每种状态下多次提取训练样本； 

步骤二、知识训练； 

步骤21、选择一个训练样本，构成抗体种群S_M，抗体种群规模为M； 

步骤22、求取所述抗体种群S_M的种群中心O＝{o₁，o₂，…，o_n}，其中，种群中心O的分量o_i由抗体种群S_M中所有个体的对应分量a_i进行平均值计算得到，i=1,2,…,n；然后采用公式（1）计算抗体种群S_M中每个个体的亲和力： 

其中，为个体与种群中心之间的曼哈坦距离； 

步骤23、对抗体种群S_M进行选择和抑制，获得新的群体S_N； 

步骤24、对群体S_N进行比例克隆，生成临时克隆群体C； 

步骤25、对临时克隆群体C进行选择变异，生成成熟的克隆群体C*； 

步骤26、对成熟的克隆群体C*进行选择替换，得到更新后的群体S_N； 

步骤27、重复执行步骤24到步骤26的迭代过程，直至两次迭代的群体S_N的总体亲和度的差别达到阈值H_T则停止迭代；其中，总体亲和度采用群体S_N中全部个体亲和力的平均值表示； 

步骤28、获取最终群体S_N的中心，即最优聚类中心； 

对于每个训练样本，都经过步骤21至步骤27得到多个最优聚类中心，每个最优聚类中心对应一个状态，知识训练结束； 

步骤三、故障诊断； 

提取被测模拟电路处于待诊断状态时的测试样本，获取测试样本与所有最优聚类中心之间的曼哈坦距离，将故障诊断结果定位至与最小曼哈坦距离对应的状态类型。 

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤23中，所述选择为：采用以亲和力为指标的轮盘赌技术从抗体种群S_M中选择。 

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤24中，群体S_N中各个体的克隆规模取个体亲和力的对数函数。 

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤25中，采用公式（2）计算临时克隆群体C中每个个体的变异概率，η为设定的调节系数； 

。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，η取值在0.05-0.3之间。 

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤26中，以亲和力为指标，采用轮盘赌技术从克隆群体C*中选出N个个体，并将其中的T个低亲和力的个体用克隆群体C*中的剩余个体中亲和力最大的个体予以替换，得到更新后的群体S_N；其中T根据经验取值。 

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，T选择的取值区间为0.02Nc～0.05Nc，Nc为所述成熟的克隆群体C*的规模。 

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述γ选择10%。 

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤27中，所述阈值H_T取为0.001～0.01之间。 

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取待诊断模拟电路在各状态下的数据特征包括提取正常状态和异常状态下的数据特征。